| 類型 | 鍍層測厚儀 | 品牌 | 中科院 |
| 型號 | HM-DT-A | 測量范圍 | 0-0.000001（mm） |
| 顯示方式 | 數示 | 電源電壓 | 220（V） |
| 外形尺寸 | 450*330*120（mm） |
特點： 1、全自動數顯顯示，測量速度快，高，可達0.01um 2、可測量單金屬鍍層、合金鍍層、復合鍍層等，選購連電腦裝置可測多層鎳，邁金等微薄鍍層 3、可測量中、高電位裝飾鉻、鋅，可測量低電位鍍錫層 4、選購1mm探頭可測量微小試樣之厚度 5、選購移動測試架可測量針狀、棒狀等試樣。 規格： 1、測量范圍和：0.01（0.0025）um-50（100）um,≤&plun;10% 合國標標準ISO2177-85 2、測量品種： 銅、鎳、鉻、鋅、錫、銀、鎘、銦、金 Kind: Cu,Ni,Cr,Zn,Sn,Ag,Ge,In,Au A、單金屬鍍層；B、合金鍍層；C、復合鍍層；D、多層鎳鍍層； E、化學鍍鎳；F、線材上鍍層 3、輸出方式：厚度四位數字顯示(其中兩位小數) 3、電源：AC220V&plun;10% 50Hz 4、儀器功耗：≥30VA 5、檢測平面積：Ф1.4mm或Ф1.0mm（選購品）以上 6、本機型之打印機可選購
