技術參數

GD-Profiler系列包括2種型號，全部裝備RF射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預算。GD-Profiler2可測試多種樣品，有著極高的性價比，GD-Profiler HR是目前商品化的輝光光譜儀中性能的，二者均可分析導體和非導體的固體樣品。廣泛應用于傳統的鍍鋅/錫板（彩涂板）、汽車工業、航空航天、熱處理（滲碳/滲氮）、陶瓷工業、玻璃工業以及當前在歐美和日本科研與工業對半導體電子（液晶面板/硬盤/芯片）、新能源（鋰電池/LED/光伏）研究與分析應用可以替代原來只能依賴的SIMS(二次離子質譜)或XPS（光電子能譜儀）。與其相比之下GDS做到更高效、更快速、更經濟等多方面優勢，受到越來越多的科研工作者的認可與青睞，刮起一股從西方到東方席卷的輝光新風。
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RF射頻發生器- 標準配置，符合E級標準，穩定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩定時間極短，表面信息無任何失真。
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脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
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多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
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J Y 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量，因而有的光效率和靈敏度
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HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態范圍達到10個量級
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寬大的樣品室方便各類樣品的加載
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功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測
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激光指點器(CenterLite laser pointer，申請中)可用于加載樣品
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JY獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
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GD-Profiler HR 1米焦距，分辨率高達14pm，可同時分析60個元素
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GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀，分辨率達9pm

Denotes HR Model

主要特點

同類光譜儀中的性能

J Y生產的ProfilerHR型輝光光譜儀有著的光譜分辨率，可同時檢測60余種元素(包括氣體元素)，尤其適合于復雜基體的分析。

儀器介紹

J Y 所生產的輝光放電發射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進行導體和非導體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。

GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達幾百微米，深度分辨率可至原子

JY所生產的輝光放電光譜儀(GD)全部采用技術的HDD(High Dynamic range Detection)檢測器，可以實時、自動優化工作參數，在靈敏度和動態范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內微量和主量的測定。