在工業及科研領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析，同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測等。 黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高，非破壞性而且測量點小。德國斯派克分析儀器公司新推出的SPECTRO MIDEX　X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可迅速、準確地提供分析數據。根據市場要求，德國斯派克分析儀器公司對儀器進行了擴展而優化，使SPECTRO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈活性方面獨樹一幟。 


　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可地確定測量位置。儀器配有計算機和化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量為0.15%。SPECTRO MIDEX　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。
　　SPECTRO MIDEX 不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。 

激發
- Mo 靶X光管
功率：30W,電壓：48kV
- 測量點尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm


樣品室
- 可顯示樣品的攝像系統(可調焦)
- 手動調節樣品臺，樣品定位簡便
- 馬達驅動移動的XYZ樣品臺，
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，
樣品重量：3kg/6.6 lbs

計算機
- 外置式計算機系統，Windows
操作系統，
- 鍵盤，鼠標，顯示器，打印機
- 菜單式軟件，光譜儀參數調整和
數據評估及計算，元素成分及分布顯示


檢測器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線，在測量計數率為
10，000脈沖計數時， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測器和讀出電路
- 脈沖計數率可達250，000 cps

光譜儀數據
- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光譜儀能耗：200W
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據不同配置

分析
- 用于合金元素分析的基本參數程序FP +
- 塑料及復合材料的RoHS指令檢測

環境條件
- 周圍環境溫度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可達到標定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵

SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是新推出的第三代產品，不僅可對樣品的微小區域進行快速無損的檢定，還可對超大樣品的表面（面積可達EC標準線路板規格的2倍， 233x160 mm）進行元素分布分析。