- 產品品牌：
- 青量
- 產品型號：
- 50-75
- 類型：
- 帶表千分尺
- 測量范圍：
- 50-75mm mm
特性：
適用于批量零件的分選檢測。
測砧移動范圍：8mm。
硬質合金測量面，噴漆尺架。
微分頭分辨率：0.01mm
指示表分辨率：0.01mm
測量范圍：50-75mm
分辨率：0.01mm
檢驗千分尺：
一、測量面的平行度及平面度采用光學平晶進行檢驗:
光學平面與絲桿測量面或測砧測量面貼合后，由于測量面的不平度，
使平晶與測量面之間存在空隙，從而產生干涉帶或干涉環，在測量面的
垂直方向每條干涉帶或干涉環所代表的平面度誤差為0.3 m.
二、測量面的平行度誤差：
測量范圍上限至100mm的千分尺兩側量面的平行度采用絲桿螺距的1/3
或1/4的光學平行平晶來進行檢驗，依次將光學平行平晶防入兩測量面間
轉動測力裝置。施加5-10N的力,使兩測量面出現的干涉環或干涉帶數目
減少至少.
測量范圍大于100mm的千分尺,測量面的平行度可用自準直儀進行檢
驗.
在距測量邊緣0.4mm范圍內的平行度忽略不計，
三、測量面的平面度誤差：
采用二級光學平晶檢驗，應調整光學平晶使測量面上干涉帶或干涉
環。
測量面不應出現兩條以上的相同顏色的干涉環或干涉帶（測量量面的
平面度，〈0.6 m）
在距測量面邊緣0.4mm范圍內的平面度忽略不計。
