簡介：

電子散斑干涉術是繼全息干涉術之后發展起來的一種實驗力學新方法。它舍棄了傳統的拍攝沖印照片復雜的濕處理過程，而直接依靠光學成像系統和計算機圖像采集處理系統獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應力測量。

一維面內位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內位移的干涉條紋，也可通過相移技術獲得被測表面的全場位移分布，可滿足實驗室科研和教學的需要。配以穩定的懸臂梁加載實驗裝置，使得整個系統穩定可靠，易于調節，能獲得很好的教學效果。

 ☆TS-SI-1XP型一維面內位移相移電子散斑干涉儀

主要技術指標
◆ 光源：半導體激光器（綠光）,輸出功率20mw， 波長532nm。
◆ 相機：1280×1024 USB2.0數字攝像頭。 
◆ 鏡頭：25mm定焦鏡頭（標配），可選配其它C接口鏡頭。
◆ 工作距離：400～800mm。
◆ 相移器：10nm。
◆ 條紋分辨率：1/20級條紋
◆ 范圍：150mm×150mm

主要配置：

主機：1套

532nm半導體泵浦固體激光器（內置）：1個

C接口鏡頭（f25mm）AVENIR：1個

TS-1000USB攝像頭（內置）：1只

600mm*900mm光學平臺：1套

懸臂梁加載裝置：1套

條紋實時顯示軟件、相移軟件各一套

原理示意

應用范圍

可用于面內二維位移場的高測量：

數字散斑位移檢測技術已被廣泛地應用于工業檢測中,用以提高工業檢測的質量和增強對復雜材料性能的認識: 可用來檢測幾厘米甚至幾毫米樣品的面內；檢測復合生物材料的特性；檢測高溫物體的熱變形；觀察透明液體中的物理現象,如在水溶液或凝膠體中晶體形成過程時密度、濃縮梯度的變化等等。

教學

用于材料力學和實驗力學課程的實驗教學。

科研

用于材料和結構的無損檢測等。

☆TS-SI-1ZP型一維離面位移相移電子散斑干涉儀

一維離面位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表離面位移的干涉條紋，配以穩定的三點彎曲梁加載實驗裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實驗裝置，使得整個系統穩定可靠，易于調節，可以獲得很好的教學效果。
主要技術指標
◆ 光源：半導體激光器（綠光）輸出功率20mw， 波長532nm
◆ 相機：1280×1024 USB2.0數字攝像頭
◆ 鏡頭：25mm定焦鏡頭（標配），可選配其它C接口鏡頭
◆ 工作距離：400～1000mm
◆ 相移器：10nm
◆ 條紋分辨率：1/20級條紋
◆ 范圍： Φ250mm
◆ 相移控制：0.01V

主要配置

主機：1套

20mW半導體泵浦固體激光器（內置）：1個

C接口鏡頭（f25mm）AVENIR：1個

TS-1000USB攝像頭（內置）：1只

600mm*900mm光學平臺：1套

圓盤受均布載荷（集中力）實驗裝置：1套

條紋實時顯示軟件、相移軟件：各一套

原理示意

應用范圍

可用于測量被測物體表面離面微位移分布

教學

用于材料力學和實驗力學課程的實驗教學；可演示圓盤受均布載荷時表面離面變形分布。

科研

用于測量任意試件表面的離面位移分布。