CST-50沖擊試樣缺口投影儀是于檢測沖擊試樣V、U型缺口的精密檢測儀器。儀器光學系統質量優良，物鏡成像清晰，放大倍率準確，是材料沖擊試驗不可少的光學檢測儀器。
　　隨著國內工業技術的發展，越來越多的行業已經開始執行夏比V型缺口沖擊試驗方法，日前國內諸如鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。
　　對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那么其試驗的結果是不可信的，是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產品或報廢或合格兩種截然相反的結果。為加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。
　　技術參數
　　1、放大倍數：50×；
　　2、投影屏直徑：180mm；
　　3、工作臺尺寸：方工作臺：110×125mm圓工作臺：90mm　工作臺玻璃直徑：70　mm
　　4、  工作臺行程：縱向：10　mm；橫向：10　mm；升降：12　mm（無刻度）
　　5、  工作臺轉動范圍：0—360°
　　6、  儀器放大倍率：50×物鏡放大倍率：2.5×投影物鏡放大倍率：20×
　　7、  光源（鹵鎢燈）：12V/100W
　　8、  電源：220V/50Hz
　　9、  外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
　　10、  重量：約18kg
　　準樣板圖類型  執行標準  備注
　　2mm　V　U型缺口  GB/T　229-2007
　　EN　10045.1-1990
　　ASTM　E23-2002a  標準樣板圖的缺口尺寸與偏差應滿足標準規定
　　CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據日前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的光學儀器。
　　目前用光學投影放大檢查是切實可行并能檢查質量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據日前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的光學儀器。