◆運用可編程結構光柵(PSLM)結合相位調制輪廓測量技術(PMP)實現對T生產線中精密印刷焊錫膏進行100%的高三維測量。
◆可編程結構光柵(PSLM)的應用,改變了傳統由陶瓷壓電馬達(PZT)驅動摩爾紋(Moiré)玻璃光柵的形式。取消了機械驅動及傳動部分,大大了使用的便捷性,避免了機械磨損和維修成本。
◆采用130萬像素的高工業數字相機,高的工業鏡頭并且步進檢測(S&Catch)結合多次采樣的方式,即在運動停止時對焊膏進行多次拍照采樣處理,相比常規掃描方式(Scanning)在運動中拍照只對焊膏進行掃描采樣,大大增強了檢測結果的準確性和可信性。
◆采用技術的DL結合易于調節的全色白光三維測量中的陰影效應干擾。
◆采用雙光源選擇(紅光和白光)照射Mark,使得Mark的相似度更高,能夠更準確找到Mark,增強了檢測結果的準確性和可信性。
◆編程采用Gerber數據轉換及導入形式,實現全板自動檢測。手工編程功能方便使用者在無Gerber數據時的編程及檢測,友好簡潔的操作界面,實現五分鐘編程一鍵式操作。
◆可檢測高度由傳統的&plun;350um增加到&plun;1200um,不可以檢測錫膏,也適用于紅膠和黑膠等不透明物體的檢測。
◆強大的過程統計軟件(SPC),提供豐富的工具,方便使用者實時監控生產中的問題,減少由于錫膏
印刷不良造成的缺陷,從而的產品質量。
◆適用小于350×250mm電路板的錫膏檢測,對應產品類別有:手機、平板電腦、數碼相機、攝像機、電腦配件等。
技術參數
◆測量原理:3D 可編程結構光柵相位調制輪廓測量技術(3D 白光 PSLM PMP)
◆測量項目:體積,面積,高度,XY偏移,形狀
◆檢測不良類型:漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。
◆FOV尺寸:26 x 20 mm
◆:XY Position:10um;Height:1um
◆重復:Height:<1um(4σ);Volume:<1%(5σ)
◆檢測速度:2.5 sec/FOV
◆Mark點檢測時間:1 sec/pcs
◆測量高度:&plun;350um(Standard)
◆小焊盤間距:100um
◆小測量大?。洪L方形(Rectangle):150um;圓形(Circle):200um
◆PCB尺寸:350 x 250 mm
◆工程統計數據:Histogram;Xbar-R Chart;Xbar-S Chart;CP&CPK;%Gage Repeatability Data;SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
◆操作系統支持:Windows 7(32 bit)Profesional
◆設備規格:630 x 840 x 530mm;75KG








