影像校正光譜儀 OmniEvo“譜”
成熟的光學設計能力
OmniEvo光譜儀的光學設計，均采用經典的C-T結構，并結合公司多年的研發(fā)經驗加以改進，在光學分辨率、通光效率和雜抑制等各項關鍵指標上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光譜儀，更是國內款運用影像校正設計和調校技術的光柵光譜儀，其性能了國際水平。
全光柵
OmniEvo光譜儀采用光柵（Newport公司生產），高質量的光柵了儀器的光譜性能指標。
靈活的光輸入結構選擇
OmniEvo光譜儀采用的是標準的狹縫入口，開口寬度可在0.01-3mm之間靈活自由選擇；通過可以選配光纖作為光輸入附件，既可用于單點測量，也可以選擇多通道光纖用于多點同時測量。
| OmniEvo光譜儀是卓立漢光新推出的將自有的“譜 ”系列（Omni-λ180i）影像校正光柵光譜儀與英國 Andor公司的iVac制冷型CCD進行整合的新一代光譜 儀產品，充分發(fā)揮了“譜”系列產品的光學分光性 能以及iVac制冷型CCD優(yōu)良的弱光探測性能，具有高的 性價比，是進行熒光、拉曼光譜實驗的選擇之一。 |
成熟的光學設計能力
OmniEvo光譜儀的光學設計，均采用經典的C-T結構，并結合公司多年的研發(fā)經驗加以改進，在光學分辨率、通光效率和雜抑制等各項關鍵指標上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光譜儀，更是國內款運用影像校正設計和調校技術的光柵光譜儀，其性能了國際水平。
全光柵
OmniEvo光譜儀采用光柵（Newport公司生產），高質量的光柵了儀器的光譜性能指標。
| 高靈敏的弱光探測能力 OmniEvo光譜儀選用了Andor公司的科研級、制冷型CCD作為光譜探測器件，在400-1000nm范圍內進行了響應度優(yōu)化，的量子效率60%；芯片的制冷溫度了-60℃，使得其讀出噪聲為6.2e/count，因而能夠滿足大部分的弱光光譜探測應用。另有制冷溫度更-100℃的背感光CCD可選，噪聲更低，峰值量子效率80%以上；還提供適用于900-1700nm范圍內使用的制冷型線陣InGaAs探測器，可用于近紅外波段的光譜信號探測。 |
靈活的光輸入結構選擇
OmniEvo光譜儀采用的是標準的狹縫入口，開口寬度可在0.01-3mm之間靈活自由選擇；通過可以選配光纖作為光輸入附件，既可用于單點測量，也可以選擇多通道光纖用于多點同時測量。
