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植物冠層結構的相關信息的測量是植物科學栽培管理的工作之一，然而傳統的測量方法局限性太多，測量的結果很多時候不準確。而根據冠層結構與冠層內的輻射環境的相互作用，利用測定輻射的相關設局來推斷冠層的結構特征，這種方式具有野外測定簡便、迅速、對冠層干擾小的特點，根據這一原理，冠層分析系統被制作出來了。
冠層分析系統也叫植物冠層分析儀或植物冠層儀，其為一體化設計，包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。作物冠層分析儀操作簡單，體積較小，攜帶非常方便。而且存儲的SD卡儲容量大，數據管理方便，在功耗上有合理的電源管理方案，測試過程中儀器根據實際情況自動進入待機狀態，需要時按喚醒鍵即可喚醒屏幕，觀察實際數據。
冠層分析系統研究表明：冠層大小可以通過葉面積指數來反映，葉面積指數反映作物群體大小，在一定的范圍內，作物的產量隨葉面積指數的增大而提高，當葉面積增加到一定的限度后，植物之間會發生葉片的重疊，光照無法充分利用，光合效率減弱，產量反而下降。
所以，在植物栽培管理和研究管理中，冠層分析系統的應用確實有著重要的作用，它可以告訴我們植物是否生長良好，可以幫助我們預測作物產量，為作物豐產優質提供指導。
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