詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇昆山
天瑞儀器提供考古陶瓷檢測解決方案
一、文物鑒定
斷源與斷代是古陶瓷科學技術研究中的兩個重要方面，其中必定要使用到對古陶瓷標本的化學組成以及記錄其年代信息的載體進行測定的科學方法。測定古陶瓷標本與各地制陶原料的化學組成可以確定古陶瓷的產地，并可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測保留在古陶瓷內部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較準確的進行斷代。
能量色散X射線熒光分析儀 是以X射線照射到樣品表面，利用能譜儀測定各種元素的特征X射線光子的能量和強度，以此來進行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡單，分析速度快，測量元素范圍廣，配合適當的標準參考物可得到較好的準確度，對樣品表面基本無損傷，如果在儀器定制時加裝真空大樣品室，就可以進行大器物的無損測試了。綜合這些優點，可以認為它是目前進行古陶瓷無損鑒定比較好的一種方法。
陶瓷器的鑒定曾經一度受到不可采樣的限制，僅對一些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射線源對新燒的仿制品進行輻照處理，以期對熱釋光的檢測造成假象，干擾測試結果的結論。自上世紀八十年代以來，大的樣品室的X射線熒光光譜儀出現，瓷器的釉表面成分原位無損檢測既成事實，為瓷器的真偽判別引入了一種全新的方法。近一兩年，由于河南汝窯遺址的發現，文物市場上一時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光光譜儀對其瓷釉表面成分進行無損分析的過程中粗略統計了一下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數瓷釉成分中含有現代瓷釉制造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現的成分，用X射線熒光光譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉就能做出精準測試。我們知道絕大多數瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成，不同時代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區別的，正因如此，我們可對大量經科學考古發掘的有確定年代和出土地點依據的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應時代的參考片成分進行比對，據此判斷被檢樣品在成分構成上的可靠性，實踐證明，當前文物市場中周轉的陶瓷器文物，有半數以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當一部分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現代瓷釉添加劑，對于這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。
X射線熒光分析儀器應用
天瑞儀器是亞洲生產高性能X射線熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出更新款高性能、臺式X熒光考古檢測分析儀EDX 3600L型,融匯先進的考古檢測分析技術！測試時間更短，測試結果更準，斷源斷代更穩！
產品名稱：EDX 3600L型 考古檢測X熒光光譜儀
型號：EDX 3600L
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm~99.99%
分析：0.05%
同時分析元素：同時可以分析35種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005μm
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s~180s
管壓：5KV~50KV
管流：50uA~1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環境溫度: 10~36℃
相對濕度: ≤85%
標準配置
超薄窗大面積的美國進口SDD探測器
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力30倍
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式
外觀尺寸： 800×710×1360 mm。
樣品腔尺寸：593（L）x546(W)x606(H)
重量：280kg
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產X熒光光譜儀，氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
江蘇天瑞儀器股份有限公司
