詢價
edx能譜分析儀是一款X射線無損設備，主要應用于合金檢測、鍍層分析、ROHS有害物質測試、礦石元素分析、土壤分析等元素含量分析，天瑞儀器是EDX能譜分析儀生產廠家，分析儀器上市公司。
EDX2000H能譜分析儀完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
不添加任何硬件設施既可升級分析功能，方便靈活的隨未來發展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低
檢測時間短，可以大大提高工作效率
應用新一代的高壓電源和X光管，提供了產品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測試效率，并優化產品性能和提高安全防護等級
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率
技術指標
多變量非線性回歸程序
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
溫度適應范圍為15℃至30℃
分析檢出限可達ppm
儀器重量：45kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
樣品腔尺寸：460×298×98mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
標準配置
移動樣品平臺
高低壓電源
新型X光管
計算機及噴墨打印機
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
應用領域
黃銅成分分析，以及銅合金、鋅合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析
能譜礦石分析儀
EDX3600K能譜分析儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到國際先進水平。X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展，傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結構，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎，結合國外相關新的技術發展成果，研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型能譜分析儀
儀器配置
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
先進的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
技術參數
型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：獨特的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
應用領域
專為粉未冶煉行業研發的一款高端設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。
