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儀器介紹
天瑞儀器是國內的測厚儀生產廠家，thick8000可以測試銅上鍍鎳鍍金的厚度，所以有人稱它為銅上鍍鎳金測厚儀，又稱X射線熒光測厚儀，采用X-Ray原理，所以是一款無損測厚儀，多性可以測5層。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
部分產品
X熒光鍍層測厚儀，電鍍鍍層測厚儀，銅上鍍金鎳測厚儀，xrf鍍層膜厚測試儀，x射線熒光測厚儀,X射線鍍層膜厚儀，X射線鍍層測厚儀，XRF鍍層測厚儀，X熒光鍍層膜厚儀， x-ray鍍層測厚儀，X光電鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀品牌，x射線電鍍層測厚儀，損金屬鍍層測厚儀，天瑞鍍層檢測儀，X射線熒光金屬鍍層分析儀，鍍層膜厚測試儀， 國產電鍍層測厚儀， x射線熒光鍍層測厚儀，電鍍層測厚儀廠家， PCB表面鍍層測厚儀,X射線熒光多鍍層厚度測量儀，鍍層分析儀X熒光電鍍層測厚儀，金屬鍍層測厚儀，X射線鍍層測厚儀價格，銅鍍銀X射線無損測厚儀。
技術指標
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低至135eV
先進的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
性能優勢
1.精密的三維移動平臺
2.卓越的樣品觀測系統
3.先進的圖像識別
4.輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換
6.雙重保護措施，實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、復位；
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。
