天瑞x射線測厚儀

天瑞x射線測厚儀特點

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

軟件優勢

 采用公司能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。

 具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。 

安裝要求

1 環境溫度要求：15℃-30℃

2 環境相對濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強電磁干擾。

X射線鍍層檢測儀售后保障

1. 儀器進行終身維修；

2. 軟件升級：如有軟件升級，乙方將提供軟件升級，不再收取升級費用；

3. 技術服務的響應期限：提供有效的技術服務，全方位的技術指導。

應用領域

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

X熒光測厚儀的運用分析，有需要的客戶可以仔細閱讀一下，以下請跟隨小編一起來閱讀吧。鍍層的厚度決定了零件的耐腐蝕、裝飾效果、防滑耐磨能力，必須根據設計要求操作，保證鍍層厚度。

鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

 它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。

 X熒光鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

技術指標

儀器：膜厚測試儀

型號：Thick 800A

 外型尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

 樣品室尺寸： 500(W)×350(D)×140(H) mm

 樣品臺尺寸： 230(W)×210(D)mm

 Z軸升降平臺升降范圍： 0～140mm

 平臺移動測量范圍 ： 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)

分析方法： FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍 ：原子序數為16S～92U之間的元素均可測量

同時檢測元素 可同時分析24個元素，五層鍍層

檢出限 ：金屬鍍層分析可達0.005μm

厚度范圍：分析鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

穩定性： 多次測量重復性可達1%

檢測時間 ：30-60秒

探測器及分辨率 ：25mm2Be窗口SDD探測器，分辨率140±5eV

激發源： 50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源

多道分析器 ： DMCA數字多道分析技術，分析道數4096道

準直器和濾光片 固定Ф0.2mm準直器，可選配其他孔徑，Al濾光片

定位 ：平臺電機重復定位小于0.1um

樣品觀察： 配備CCD多彩攝像頭，圖像放大可達40倍，實現微小樣品清晰定位。

平臺穩定性 ：Z軸測試平臺采用恒力彈簧平衡重力，實現平臺的恒力升降，有效降低Z軸電機負荷，并有效保證了Z軸的垂直度。

安全性 雙重安全保護設施：防撞激光檢測器與樣品室門開閉傳感器；待機無輻射，工作時輻射水平遠低于安全標準，且具有軟件連動裝置。

操作環境溫濕度 ：15℃～30℃，≤70%

儀器重量 ：90kg

工作電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源

儀器介紹

 X熒光測厚儀Thick800A是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器，其探測器分辨率為139eV，處于水平；產品采用上照式設計，多重防輻射保護裝置以及X射線發生器，使輻射劑量符合規定；樣品觀察系統采用CCD攝像頭、數字多道分析器、激光定位以及自主研發的專用測厚分析軟件，各項指標均符合相關技術要求，技術達水平。

優點簡述

 該款鍍層儀器專為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測機構等行業量身打造的儀器。XYZ三個可調節方向、全方位的樣品觀察系統和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便，可適應惡劣工作環境

電鍍適用范圍

鐵基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag

銅基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr

鋅基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

鎂鋁合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au

塑膠基體－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應用優勢

1 快速：一般測量一個樣品只需要10S～60S，樣品可不處理或進行簡單處理；

2 無損：物理測量，不改變樣品性質；

3 準確：對樣品可以準確分析；

4 直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；

5 環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高移動平臺可準確定位測試點，重復定位小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

產品說明、技術參數及配置

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高移動平臺可***定位測試點，重復定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。