詢價
X射線ROHS分析儀的產品介紹，天瑞X射線ROHS分析儀大功率X射線光管和高分貝探測器技術。提供產品詳細配置信息和報價。天瑞X射線ROHS分析儀的下照式設計可滿足各種形狀樣品的測試需求。
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用移動平臺。精細的手動移動平臺，方便定位測試點高分辨率探測器：提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率，元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
天瑞ROHS分析測試儀器檢出限可達1ppm，分析含量一般為1ppm到99.99％，任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型，多變量非線性回歸程序，溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源。移動樣品平臺，SDD探測器，數字多道分析系統，高低壓電源。大功率X光管，計算機及噴墨打印機
《電子信息產品中有毒有害物質的檢測方法》（以下簡稱《檢測方法》，標準號為 SJ/T 11365-2006）對RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定。其中X射線熒光光譜法（XRF）作為一種*快捷、方便的方法被制定為快速篩選方法。使用X射線熒光光譜法（XRF）可對鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素的相應標準樣品進行測試。可是基于 XRF的原理所獲得的結果只是元素的含量，也就是說如果這種篩選測試得到鉻（Cr）或溴（Br）的含量，即使他們超標也并不能代表有害物質（Cr VI）與阻燃劑PBB和PBDE）超標，這個測試結果（指含有）只是含有相應有害物質的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒有這兩種有害物質不合格的限值判斷依據的原因。
