詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：臺灣
- 可程序交流耐壓輸出： 0.1kVac~10kVac
- 高精度及高分辨率電流表：0.01μA~300μA
- 局部放電(PD)偵測范圍：1pC~2000pC
- 頻率范圍：50Hz 60Hz ± 0.1%
- 體積 (WxHxD)： 428x176x500 mm
- 重量：20.5 kg
局部放電測試儀
PARTIAL DISCHARGE TESTER
MODEL 19501-K
基本介紹
Chroma 19501-K局部放電測試儀內建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(PartialDischarge, PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0.1k V~10k V，漏電流測量范圍0.01μA~300μA，局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材料測試應用所設計與開發。產品設計符合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrow-band) 量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測物測試判定結果。產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要求，內建IEC60747-5-5法規之測試方法于儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供使用者便利的操作接口。應用于電源系統之安規組件，如光耦合器，因考量如果組件長時間發生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發生絕緣失效的情況，進而引發使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規中提及，于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。
量測技術
局部放電測試儀對待測物施加一個特定條件下的電壓，測量其視在放電電荷量(PD)，除了驗證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力，同時也驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙，透過施加一個略高于組件額定工作電壓的局部放電電荷測試，用以檢驗電氣組件在正常工作電壓條件下之長久可靠性，但于實際生產上絕緣材料內部當然不可能百分之百無氣隙存在于絕緣材料內，故在IEC60747-5-5光耦合器法規針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC (q pd =5pC)。局部放電測試設備用于測量與判定微小放電量，其訊號非常微小且快速，因此局部放電量測設備于出廠前必須透過精密的校正才能確保放電發生時，其高頻訊號能夠被精準的測量，在高壓試驗技術法規標準IEC60270-1章節中對于局部放電的校正標準與方法在法規條文中有明確指示跟說明，Chroma 19501-K 局部放電儀亦依據法規要求進行設計與開發。校正器上所使用的標準電容Co通常為一個低壓電容器，因此執行PD校正時局部放電測試器設備是在不帶電的狀態下進行校正，也就是只針對PD量測回路執行校正，在法規內文中也有說明，為了使校正有效，用于校正器上的標準電容Co必須小于0.1 Ca，則校正器上的脈沖等效放電量q o =V o C o 單次放電脈沖。
光耦合器法規應用
在IEC60747-5-5 法規中，對于光耦合器相關之電氣安全要求、安全試驗及測試方法等項目已清楚定義，提供給光耦合器組件一個安全應用的指導性準則。Chroma19501-K局部放電測試儀符合法規對于電氣安全測試要求及測試方法，法規中針對光耦合器在生產過程中定義為必須100%執行局部放電測試 (Partial Discharge Test)，且明訂局部放電測試電壓要求提供給生產業者參考準則，局部放電測試電壓于生產測試時，定義以1.875倍常數乘上標稱之絕緣工作電壓或重復發生絕緣峰值電壓 (取電壓值高者)，做為局部放電測試電壓，其電壓計算公式參考如下 :
