- 企業(yè)類型:貿易商
- 新舊程度:全新
- 原產地:廈門
- 光譜范圍:0.2~6.0μm
- 最佳分辨率:9.0nm
- 最快成譜時間:10s
- 探測器制冷:Yes,-30℃
- 最佳光學分辨率:\t3.0nm
- 最大波段數:15000
ATP7820系列是奧譜天成集多年研發(fā)經驗推出的模塊化光譜儀,采用旋轉掃描光柵技術,可覆蓋從紫外到中遠紅外的寬光譜范圍,為用戶在多領域的光譜分析需求提供了一個可靠且可靈活配置的系統(tǒng)平臺。
核心設計:寬波段覆蓋與模塊化配置
該系列光纖光譜儀的核心是其旋轉凹面光柵掃描系統(tǒng)。通過計算機軟件控制光柵旋轉進行精密波長掃描,實現了從0.2 μm至12.0 μm(標準型號)的寬波段光譜獲取。系列提供六種標準型號,覆蓋從0.2~1.7μm至0.2~12.0μm的不同范圍,并支持根據特定需求進行定制,使用戶在波長覆蓋與分析目標上擁有選擇上的靈活性。
性能特點與系統(tǒng)設計
光纖光譜儀采用TEC深度制冷技術,可將探測器冷卻至-20℃至-40℃,有效降低了探測器的熱噪聲,提升了系統(tǒng)的信噪比與動態(tài)范圍,且無需液氮等外置冷卻介質。光路系統(tǒng)經過仿真優(yōu)化,配合可選的入射狹縫寬度(從5μm至200μm)和內置斬波器(如需要),使用戶可以根據具體測試需求,在光通量與分辨率之間進行平衡設置。
關鍵規(guī)格與便捷操作
ATP7820光纖光譜儀支持SMA905光纖和自由空間兩種光輸入方式。數據通過USB 2.0或UART接口輸出,24位ADC位深確保了數據采集的精度。儀器由單路+12V直流電源供電,結構緊湊,主要操作均集成于軟件中,實現一鍵式光譜采集與自動化控制,簡化了使用流程并提高了操作便捷性。
應用領域
該系列光纖光譜儀適用于多種需要寬光譜、良好分辨率的光譜分析場景:
材料光學特性研究:用于測量固體、液體及薄膜材料的吸收、反射與透射光譜。
高溫過程與燃燒診斷:適用于分析發(fā)動機尾焰、工業(yè)燃燒過程等高溫輻射體的光譜特性。
地物光譜與遙感應用:可用于采集地面物體的特征光譜,為環(huán)境監(jiān)測、農業(yè)遙感及礦物識別提供基礎數據。
ATP7820系列將寬波段探測能力、可配置的冷卻系統(tǒng)與集成的自動化控制相結合,為科學研究與工業(yè)測試提供了一個性能穩(wěn)定、適應性強的基礎測量工具。











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