詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光學設計：零像差非對稱C-T光路
- 光柵：塔式轉動光柵
產品簡介：
ATP7380是奧譜天成集20年光譜儀研制經驗，經過5年的研發，推出的超高分辨率成像光譜儀，ATP7380成像型光柵光譜儀類似于PI公司的isoplane-SCT-320和SCT-160，內置2-4片反射型光柵，光柵塔輪通過軟件控制，可精準定位不同的光柵角度、波長、分辨率。 ATP7380成像型光柵光譜儀系統利用了仿真優化的光學系統來確保高分辨率，該設計同時通過糾正像差、像差校正技術來提供多光纖同時成像的可能，空間通道數可達506通道。 ATP7380成像型光柵光譜儀有四款不同焦長的型號：210，350，510 和 810mm。每一個ATP7380成像型光柵光譜儀都可以覆蓋從紫外到近紅外、短波紅外波段的應用。 ATP7380成像型光柵光譜儀可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。 ATP7380成像型光柵光譜儀所有的控制，均可以通過軟件進行電動控制。
關鍵技術參數
光學設計：無像差非對稱 C-T 光路，環形鏡 + 像差校正系統；內置 2–4 片反射光柵的塔式輪，軟件電動控制（最小轉角 0.036 μrad），支持 90–3600 g/mm 多種光柵；雙入口（SMA905 光纖 + 自由空間），雙出口可接雙探測器（可見光 CCD + 近紅外 InGaAs）；支持多光纖陣列同時成像Optosky。
探測器與信號：TE 深冷 CCD（2048×506 像素， - 40℃/ 可選 - 70℃超低溫）、制冷 InGaAs 陣列；ADC 18 bit（輸出 16 bit）；動態范圍：sCMOS/CCD>1400，SWIR InGaAs>10000；積分時間 8 ms–1.2 h；接口 USB2.0、UART，外觸發同步；12 V DC 供電（<5 A）。
環境與物理：工作溫度 - 20℃至 45℃，濕度 < 90%（無凝露）；尺寸隨焦距遞增，FL210 約 600×400×155 mm。
核心優勢
空間 + 光譜雙維度：一次曝光同時獲取空間分布與對應光譜，適合熒光成像、拉曼成像、薄膜均勻性檢測、生物組織光譜切片；空間通道數 506，可實現多光纖并行采集。
超高分辨率 + 寬波段：長焦距 FL810 配合高刻線光柵，可滿足激光線寬、拉曼、高分辨吸收 / 發射光譜；180–2500 nm 全覆蓋，可擴展至中紅外（需定制探測器）。
模塊化與自動化：光柵切換、波長掃描、積分時間全電動；配套成像光譜分析軟件，兼容 LabVIEW 二次開發；提供濾光輪、光源、校準系統等全套配件Optosky。
典型應用
光譜成像：生物組織切片、植物葉片、半導體晶圓、文物無損檢測；
高分辨光譜：拉曼、熒光 / 光致發光（PL）、激光線寬、LIBS（激光誘導擊穿光譜）；
工業檢測：薄膜厚度均勻性、多組分混合材料的空間分布、環境污染物成像監測。
