| 類型 | 散斑干涉儀 | 品牌 | VEW |
| 型號(hào) | GE100000 | 品種 | 散斑干涉儀 |
| 測(cè)量范圍 | 30×40CM | 測(cè)量分辨率 | 1392×1040 |
| 近工作距離 | 1（mm） | 用途 | 用于檢測(cè)復(fù)合材料內(nèi)部的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等 |
用于復(fù)合材料檢測(cè)的黃金眼剪切干涉測(cè)量系統(tǒng)（激光散斑錯(cuò)位干涉測(cè)量系統(tǒng)）
黃金眼剪切干涉檢測(cè)系統(tǒng)主要用于檢測(cè)復(fù)合材料內(nèi)部的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等。顯示出的非均勻性可用鼠標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記，從而確定所顯現(xiàn)缺陷的橫向大小和在測(cè)量視場(chǎng)中的位置
該測(cè)量技術(shù)用激光照射材料表面，將反射回的波面橫向平移位移后同未平移的波面進(jìn)行自涉，形成干涉條紋。當(dāng)被測(cè)材料由于開裂，剝離，內(nèi)部包含異物，凹陷，受擠壓，或是多層材料出現(xiàn)脫層等現(xiàn)象，則材料表面的干涉模式會(huì)出現(xiàn)局部不連續(xù)。
該系統(tǒng)由VEW與不來(lái)梅應(yīng)用光學(xué)研究所（BIAS）合作開發(fā)
與采用電機(jī)驅(qū)動(dòng)反射鏡的其他常規(guī)剪切干涉系統(tǒng)不同，黃金眼系統(tǒng)次使用了電控的空間光調(diào)制器
（SLM）來(lái)實(shí)現(xiàn)剪切和相移。（已申請(qǐng)）測(cè)量場(chǎng)可以進(jìn)行動(dòng)態(tài)或溫度加載。
動(dòng)態(tài)加載通過壓電傳感器（Piezo）來(lái)實(shí)現(xiàn)。壓電傳感器經(jīng)真空緊密貼合在材料表面，由軟件控制產(chǎn)生量的振動(dòng)。其振動(dòng)頻率可變，從而可與材料的機(jī)械性能相匹配。溫度加載則可通過熱光源的照射來(lái)實(shí)現(xiàn)。
