| 品牌 | ANT | 型號(hào) | ANT-5 155M |
| 電源電壓 | 12（V） | 重量 | 0.5（kg） |
| 用途 | 2M/155M/622M/2.5G(STM16)便攜式接入傳輸分析儀應(yīng)用于SDH的光傳輸系統(tǒng)、網(wǎng)元設(shè)備的安裝，SDH開通和維護(hù)以及傳輸性能分析測(cè)試。 |
ANT-5特性：
- 體積小、重量輕的測(cè)試解決方案，僅2.2kg,便于野外測(cè)試。用于DS1/E1到2.5Gbps測(cè)試。
- 在STM－1/OC－3，STM－4/OC－12， STM－16/OC－48上的雙波長(zhǎng)光測(cè)試以及DS1/E1/E3/DS3/E4 STM-1/OC-3電接口上的測(cè)試
- 對(duì)于VC－4－4c/OC-12c,VC-4-16c/OC－48c SDH/SONET信號(hào)級(jí)聯(lián)映射的完整分析
- Sabit發(fā)生功能以及靈活的MUX/DEMUX測(cè)試設(shè)置進(jìn)行深入的PDH分析
- ATM分析功能，用于ATM與3G/UMTS網(wǎng)絡(luò)的業(yè)務(wù)驗(yàn)證，測(cè)試PDH,SDH/SONET上所承載的新的ATM業(yè)務(wù)。
- 物理層完整性的檢測(cè)用于光功率測(cè)試性能
- ECL NRZ端口能夠?qū)饩W(wǎng)路進(jìn)行無干擾式直接監(jiān)測(cè)
- SDH STM-1/4/16 (電口和光口)
- SDH C4, C3 and C12 mappings via AU4/AU3
- PDH 速率: E1, E3, DS3 & E4測(cè)試
- APS倒換測(cè)試, TCM級(jí)聯(lián)測(cè)試, RTD時(shí)延測(cè)試
- 指針分析/產(chǎn)生
- SDH/PDH 缺陷 & 異常分析和插入。缺陷頁(yè)面監(jiān)測(cè)所有開銷告警，支持27個(gè)缺陷和異常監(jiān)測(cè)。異常頁(yè)面顯示計(jì)數(shù)及比率
- STM-1 開銷分析和產(chǎn)生
- 性能分析
- 數(shù)據(jù)輸出到PC機(jī)或打印機(jī)
- 配置和結(jié)果存儲(chǔ)(CF卡/RAM/PCMCIA)
- LAN/RS232口
- 菜單具有7種不同語(yǔ)言的顯示功能（包括中文菜單和說明書）
- TCP/IP或調(diào)制解調(diào)器遠(yuǎn)端調(diào)制
- 大屏幕，簡(jiǎn)單圖形化界面，操作簡(jiǎn)單，易于掌握，減少培訓(xùn)時(shí)間
- STM-1/4/16 光口/電口 & PDH 接口集成在一個(gè)設(shè)備上
- STM-1/4/16 光口測(cè)試，電池供應(yīng)時(shí)間為3 小時(shí)
- 事件時(shí)間記錄歷史文檔
- 圖形頁(yè)面顯示事件的“tickertape”&直方圖
- 所有差錯(cuò)事件同時(shí)記錄
- 獨(dú)立的收&發(fā)接口作復(fù)用/解復(fù)用測(cè)試－驗(yàn)證映射
- 支持C4，C3和C12通過AU4/AU3的映射
- PDH差錯(cuò)&告警監(jiān)測(cè)/生成：AIS，LOF,RDI,FAS,CRC-4等
- SDH缺陷&異常監(jiān)測(cè)/生成：AIS，LOS,TIM,PLM等
- 單個(gè)比率或連續(xù)的差錯(cuò)/告警生成
- 開銷監(jiān)測(cè)和生成
- 通道跟蹤產(chǎn)生和不匹配監(jiān)測(cè)：J0，J1，J2字節(jié)
- 重復(fù)BER測(cè)試
- VC－12支路掃描功能，自動(dòng)監(jiān)測(cè)所有E1線路性能
- N×64k誤碼率測(cè)試對(duì)指定的頻帶進(jìn)行服務(wù)質(zhì)量測(cè)試
- 提供遠(yuǎn)程操作選件
- PDH復(fù)用鏈測(cè)試
- Sa比特控制
- E1編碼錯(cuò)誤生成和監(jiān)測(cè)
- AU3映射
- 提供DS－1，E1，E3，DS3，E4&600Mbit/sSONET映射
