品名  掃描探針顯微鏡
型號  S-image 
概要  能夠在空氣和液體中簡便地進行高分辨率觀察的小型通用多功能型單位。通過采用了低相干光源、對熱源的控制，實現了更高分辨率、更低偏差、更小光干渉的高分辨率多功能型單位。 
特長 
1. 操作簡單、無壓力機構
以有定評的「Front Wide Open機械裝置」「Over Slide Head機械裝置」為首，裝備了各種各樣容易更換樣品的機械裝置。  
2. 利用低相干光學系控制干渉條紋噪音
通過采用「低相干(光干渉少)光源」，消除了高輸出時的Mode Hop噪音和反光的噪音，S/N比提高了1.5倍。使超微需求的更高分辨率觀察成為可能。
3. 通過熱源控制構造實現的低偏差化
通過「熱源控制構造」，單位主體的熱源得到徹底的排除。 實現了以前的1/10以下的偏差，大幅度地提高了超微需求的構造測量中不可或缺的基本性能。
4. 穩定的高分辨率性能
通過新方式的下針功能，實現了探針的柔和接觸樣品。下針時對探針的損傷可以控制到小。
 
主要產品規格
分辨率 原子相
樣品尺寸  35mmφ、厚度10ｍｍ對應　以加高擋板(零配件)對應至厚度20mm
樣品移動范圍  X-Y stage 5mm
掃描范圍
標準： 20µm□/1.5µmH對應
• 100µm□/15µmH對應
• 150µm□/5µmH對應
• 110µm□/6µmH對應(閉環固定偏差控制)
 
定位顯微鏡
 • 簡易顯微鏡(×200倍)
• 光學顯微鏡(×1000倍)
• 變焦顯微鏡(×700倍)
• 金屬顯微鏡(裝有微分干渉)(×2000倍)
 
測定功能 • AFM(接觸模式)
• DFM(輕敲模式)
• PM(相位)
• FFM(摩擦)
• MFM(磁力) • SISモード
• LM-FFM(橫振動摩擦)
• VE-AFM/DFM(粘彈性)
• Adhesion(吸附力)
• CURRENT(電流)
• SSRM(擴展抵抗)
• PRM(壓電響應)、KFM(表面電位)
零配件    
液體中?電化學對應桿
外殼元件 密封環境控制元件 電化學元件