配置及基本參數：

l      高靈敏電制冷AMPTEK-X123型Si-PIN探測器(美國產)／探測面積：5-25mm2／分辨率：149eV

l      美國spellman公司生產專用電源／輸入電壓: +24v DC，偏差±5%

l      美國牛津公司生產X熒光分析儀專用光管燈絲電壓: 2.2V對應50 kV/1mA

l      攝像定位系統：30萬像素／800×600分辨率／32位真彩

l      特殊材質的X射線濾光片

l      專為不同測試樣件設計的專用準直器

l    MLSQ-FP分析軟件模塊(集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析)

l      采用多道脈沖分析器

l      美國原裝進口初始化標樣

l      開蓋感應與警示燈響應防輻射裝置／級防輻射12MM厚合金鋁板外殼

l      計算機及噴墨打印機

l      樣品腔尺寸：320×330×80mm可實現超大樣品的測試

l      外形尺寸：400×350×450mm

儀器性能／技術指標：

l      測定元素原子編號11（Na）~ 92 (U)

l      可同時分析樣品中25個金屬的含量極成分

l      測試樣品形態：固體，粉末，液體，濾渣，鍍層及其他

l      元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%

l      多次測量重復性可達0.1%

l      長期工作穩定性為0.1%

l      檢測時間100-120秒

l      樣品觀察：高清晰CCD攝像頭可實現準確定位微小物體測量及產品拍照功能

l      可以對銅、鋅、鐵、不銹鋼等任意基體的金屬做成分分析

l      系統支持化合物換算，即通過金屬元素的分析可以換算出該金屬在物體里相應化合物的比例

l      定性分析功能／定量分析功能

l      自動辨別，圖譜比對

l      統計處理功能／制作功能

工作環境要求：

l      工作溫度：15-30℃

l      相對濕度：≤65%

l      電源：AC220V，200W（建議使用者配UPS穩壓器)

儀器優勢：

l      獨特的MLSQ-FP分析軟件模塊可以內置無限多標樣數據，極大的提高了測試和測試范圍

l      軟件支持無標樣分析，無標樣條件下誤差小于1%，可任意進行定性定量分析，使用靈活，是目前市場上的軟件插件

l      集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析于一體的測試軟件

l      光譜和分析界面分離，便于人員與非人員同時使用

l      軟件可視頻觀察樣品的放置

l      同時可顯示25種元素分析元素結果

l      儀器初始化、校準方便快捷

l      具有多種光譜擬合分析處理技術（是檢出保證的技術）

1）Smooth(波峰光滑處理)

2）Pickup Removal(拾取峰去除)

3）Escape peak(逃逸峰處理)

4) Background Removed(背景去處)

5) Blank Subtraction(空白峰位去除)

6) Compton Peak(康普頓波峰處理)

7) Deconvolute(去卷積積分處理)

 S＆S-EDX-900 X熒光光譜儀應用領域：

主要適用有色金屬行業，CU誤差不超過0.2

1、電子信息產品污染控制管理辦法
2、WEEE&RoHS及ELV指令
3、玩具中有害重金屬的檢測
4、無鉛焊錫分析
5、無鹵化分析

6、金屬冶煉、工廠制造全元素分析

7、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量

8、營養添加劑,各種油品成份分析等

9、氣溶膠顆粒濾膜，刑偵以及痕量分析

10、土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等

整機保修1年，X射線管保修2年