- 產(chǎn)品品牌：
- 蔡康
- 產(chǎn)品型號：
- XPR-300C
- 類型：
- 偏光顯微鏡
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一、儀器的主要用途和特點 XPR-300型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等常用的實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。 本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。 偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學(xué)、自動控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當前技術(shù)，多年研究開發(fā)的結(jié)果，在國內(nèi)享有.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。 | |
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| 二、儀器的主要技術(shù)指標 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):
2.熔點儀技術(shù)參數(shù):
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