儀器簡介：
BRIMROSE高速AOTF近紅外薄膜分析儀具有極好的準確率，為了優化生產過程，儀器可以放置在生產線內，對于能夠準確分析監測薄膜或者涂層是很重要的。儀器可以被用于在線規格確認，薄膜或紙張上的單層或多層涂層厚度，分析和評價涂層或紙張的化學成分，對殘留溶液的監測，加工時間，等。
AOTF-近紅外薄膜分析儀完全不受外界光，振動，灰塵，污垢的影響，是值得信賴的儀器，在生產環境中無需維護費用。新穎的光學頭設計使得薄膜或者涂層的測量對于質量控制是一種有效的節約費用方法。
BRIMROSE LUMINAR 系統緊密設計具有無接觸固態傳感器，按照所需的行業使用，提供快速全譜掃描。儀器可以被安裝在滑竿上，通過網絡掃描或者可以被用于統計的斑點測量。對于快速和自動的過程調整，BRIMROSE AOTF-NIR 可以和PLC或DCS連接。利用在線AOTF-NIR過程分析儀進行產品分析，為全世界許多客戶節省了大量時間和財力。
技術參數：
1、雙光束、預校準燈源總成，
2、InGaAs檢測器，
3、嵌入式計算機，調制解調器，以太網接口，
4、使用Brimrose宏語言的SNAP!™分析軟件，
5、16,000 波長點/秒，
6、微型集成電學模塊安裝在光學模塊上。
7、電源： 12VDC, 90 W; 90-230 VAC, 90 W.
主要特點：
非接觸，非破壞測量基層材料和涂層的化學和物理性質
BRIMROSE高速AOTF近紅外薄膜分析儀具有極好的準確率，為了優化生產過程，儀器可以放置在生產線內，對于能夠準確分析監測薄膜或者涂層是很重要的。儀器可以被用于在線規格確認，薄膜或紙張上的單層或多層涂層厚度，分析和評價涂層或紙張的化學成分，對殘留溶液的監測，加工時間，等。
AOTF-近紅外薄膜分析儀完全不受外界光，振動，灰塵，污垢的影響，是值得信賴的儀器，在生產環境中無需維護費用。新穎的光學頭設計使得薄膜或者涂層的測量對于質量控制是一種有效的節約費用方法。
BRIMROSE LUMINAR 系統緊密設計具有無接觸固態傳感器，按照所需的行業使用，提供快速全譜掃描。儀器可以被安裝在滑竿上，通過網絡掃描或者可以被用于統計的斑點測量。對于快速和自動的過程調整，BRIMROSE AOTF-NIR 可以和PLC或DCS連接。利用在線AOTF-NIR過程分析儀進行產品分析，為全世界許多客戶節省了大量時間和財力。
技術參數：
1、雙光束、預校準燈源總成，
2、InGaAs檢測器，
3、嵌入式計算機，調制解調器，以太網接口，
4、使用Brimrose宏語言的SNAP!™分析軟件，
5、16,000 波長點/秒，
6、微型集成電學模塊安裝在光學模塊上。
7、電源： 12VDC, 90 W; 90-230 VAC, 90 W.
主要特點：
非接觸，非破壞測量基層材料和涂層的化學和物理性質
