儀器簡介：
工作模式
• 反射式NSOM，通過樣品反射光強度進行成像，掃描過程，樣品經由探針孔徑光照明，反射光耦合到顯微鏡物鏡，并經過PMT探測；
• 熒光NSOM允許局域熒光成像，樣品經由探針孔徑光照明，透射光經顯微鏡物鏡及濾光片，由PMT探測；
• 透射NSOM可以進行透明樣品的成像，透射光同樣被倒置光學顯微鏡收集并由PMT探測。
激光波長選項
Trestles 20/50/100 700-950nm
Mavericks65 1240-1270nm
Tamarak-Er 1540-1560nm
技術參數：
參數
掃描方式（根據樣品或探針可選）
測量頭掃描范圍 80×80×3.5um（+/-10%）
小掃描步長 0.009nm
X,Y樣品臺移動范圍 5×5mm
移動 5um
樣品尺寸 可達Φ100×10mm
X,Y閉環控制平臺
X，Y范圍 100×100um
固有非線形 優于0.2%
2nm
重復性 30nm（典型），小于全程0.2%
承重 2Kg
照明激光器
脈沖長度 <50fs
輸出功率 >100mW
重復頻率 >80MHz
波長范圍 740-950nm
主要特點：
特 點
切向力反饋
納米光學成像
反射和透過工作模式
飛秒脈沖或波長可調連續激光照明
光譜測量（可選）
工作模式
• 反射式NSOM，通過樣品反射光強度進行成像，掃描過程，樣品經由探針孔徑光照明，反射光耦合到顯微鏡物鏡，并經過PMT探測；
• 熒光NSOM允許局域熒光成像，樣品經由探針孔徑光照明，透射光經顯微鏡物鏡及濾光片，由PMT探測；
• 透射NSOM可以進行透明樣品的成像，透射光同樣被倒置光學顯微鏡收集并由PMT探測。
激光波長選項
Trestles 20/50/100 700-950nm
Mavericks65 1240-1270nm
Tamarak-Er 1540-1560nm
技術參數：
參數
掃描方式（根據樣品或探針可選）
測量頭掃描范圍 80×80×3.5um（+/-10%）
小掃描步長 0.009nm
X,Y樣品臺移動范圍 5×5mm
移動 5um
樣品尺寸 可達Φ100×10mm
X,Y閉環控制平臺
X，Y范圍 100×100um
固有非線形 優于0.2%
2nm
重復性 30nm（典型），小于全程0.2%
承重 2Kg
照明激光器
脈沖長度 <50fs
輸出功率 >100mW
重復頻率 >80MHz
波長范圍 740-950nm
主要特點：
特 點
切向力反饋
納米光學成像
反射和透過工作模式
飛秒脈沖或波長可調連續激光照明
光譜測量（可選）
