TRACEIT 便攜式三維形貌儀
我公司設(shè)計了世界上臺便攜式光學(xué)三維形貌儀，10秒鐘即可測量材料表面的三維輪廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接觸面積，并同時原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，準(zhǔn)確的測量方法幾乎可以在任何地點進(jìn)行測量，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品的質(zhì)量檢驗和研發(fā)中。
應(yīng)用領(lǐng)域
♦ 對文物清洗效果進(jìn)行無損檢測、評估
♦ 修復(fù)、加固效果評估
♦ 古代紙張、絲織品分析鑒定
♦ 用于考古現(xiàn)場記錄
♦ 汽車、航空、船舶工程（皮革、紡織品、涂裝、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便攜式光學(xué)三維形貌儀基本介紹
TRACEiT®-MICRO便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個手持式光學(xué)測量頭和專用便攜式電腦，在5mm × 5mm范圍內(nèi)對x及y方向各進(jìn)行高達(dá)1500次的測量，從而得出平均數(shù)值及標(biāo)準(zhǔn)偏差。 同時，設(shè)備的專用軟件還可進(jìn)一步評估特定范圍內(nèi)材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設(shè)計，因此其測量結(jié)果重復(fù)性和再現(xiàn)性高。
設(shè)備優(yōu)點
★ 高
★ 快速測量
★ 便攜式設(shè)計
★ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析
★ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
★ 技術(shù)可同時測量三維形貌和視覺效果
技術(shù)參數(shù)
基本介紹
TRACEiT-MIDI®便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個手持式光學(xué)測量頭，專用便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，ipod操作控制系統(tǒng)。測量范圍可達(dá)標(biāo)準(zhǔn)A4紙，度可達(dá)100um。 同時，專用軟件還可用來進(jìn)一步評估特定區(qū)域內(nèi)材料表面的性能。
設(shè)備優(yōu)點
¤ 便攜式設(shè)計
¤ 技術(shù)可同時測量三維形貌和視覺效果
¤ 同時3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
¤ 快速測量
¤ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析：粗糙度，高度，深度等
技術(shù)指標(biāo)
備選設(shè)備
COPRA® 掃描計算系統(tǒng)
該系統(tǒng)可以用來計算材料的
☆ 表面結(jié)構(gòu)
☆ 涂層
☆ 印壓
☆ 磨耗及磨損
☆ 顆粒度及孔隙度
該掃描計算系統(tǒng)特別設(shè)計用來整理及評估磨損結(jié)果，亦可用于評估其他各種表面的特性。計算參數(shù)包括：
♦ 顆粒度分布（數(shù)量、面積、大小及百分比）
♦ 平均值（包含標(biāo)準(zhǔn)偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰階表面形貌影像的高度分析
♦ 方位長度剖面
♦ 磨耗及磨損分析
我公司設(shè)計了世界上臺便攜式光學(xué)三維形貌儀，10秒鐘即可測量材料表面的三維輪廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接觸面積，并同時原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，準(zhǔn)確的測量方法幾乎可以在任何地點進(jìn)行測量，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品的質(zhì)量檢驗和研發(fā)中。
應(yīng)用領(lǐng)域
♦ 對文物清洗效果進(jìn)行無損檢測、評估
♦ 修復(fù)、加固效果評估
♦ 古代紙張、絲織品分析鑒定
♦ 用于考古現(xiàn)場記錄
♦ 汽車、航空、船舶工程（皮革、紡織品、涂裝、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便攜式光學(xué)三維形貌儀基本介紹
TRACEiT®-MICRO便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個手持式光學(xué)測量頭和專用便攜式電腦，在5mm × 5mm范圍內(nèi)對x及y方向各進(jìn)行高達(dá)1500次的測量，從而得出平均數(shù)值及標(biāo)準(zhǔn)偏差。 同時，設(shè)備的專用軟件還可進(jìn)一步評估特定范圍內(nèi)材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設(shè)計，因此其測量結(jié)果重復(fù)性和再現(xiàn)性高。
設(shè)備優(yōu)點
★ 高
★ 快速測量
★ 便攜式設(shè)計
★ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析
★ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
★ 技術(shù)可同時測量三維形貌和視覺效果
技術(shù)參數(shù)
| 度 | 1.5µ m |
| 測量面積 | 5 mm × 5 mm |
| 測量時間 | 10秒 |
| Z軸測量高度 | 800µ m |
TRACEiT-MIDI®便攜式光學(xué)三維形貌儀
基本介紹
TRACEiT-MIDI®便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個手持式光學(xué)測量頭，專用便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，ipod操作控制系統(tǒng)。測量范圍可達(dá)標(biāo)準(zhǔn)A4紙，度可達(dá)100um。 同時，專用軟件還可用來進(jìn)一步評估特定區(qū)域內(nèi)材料表面的性能。
設(shè)備優(yōu)點
¤ 便攜式設(shè)計
¤ 技術(shù)可同時測量三維形貌和視覺效果
¤ 同時3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
¤ 快速測量
¤ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析：粗糙度，高度，深度等
技術(shù)指標(biāo)
| 度 | 100µ m |
| 測量面積 | 30mm× 20 mm |
| 測量時間 | 10秒 |
| Z軸測量高度 | 800 mm |
備選設(shè)備
COPRA® 掃描計算系統(tǒng)
該系統(tǒng)可以用來計算材料的
☆ 表面結(jié)構(gòu)
☆ 涂層
☆ 印壓
☆ 磨耗及磨損
☆ 顆粒度及孔隙度
該掃描計算系統(tǒng)特別設(shè)計用來整理及評估磨損結(jié)果，亦可用于評估其他各種表面的特性。計算參數(shù)包括：
♦ 顆粒度分布（數(shù)量、面積、大小及百分比）
♦ 平均值（包含標(biāo)準(zhǔn)偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰階表面形貌影像的高度分析
♦ 方位長度剖面
♦ 磨耗及磨損分析
