AOI自動光學檢測儀（ALD520）產品介紹：
州視覺（Aleader）研發團隊于2002年在中國東莞成立，是國內從事SMT（表面貼裝技術）AOI（自動光學檢測儀）的高新科技企業。AOI自動光學檢測儀（AOI-Automated Optical Inspection）是應用于表面貼裝（SMT-Surface Mounted Technology）生產流水線上的一種自動光學檢查裝置，可的檢測印刷質量、貼裝質量以及焊點質量。通過使用AOI自動光學檢測儀作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現良好的過程控制。早期發現缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段,AOI自動光學檢測儀將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板.
AOI自動光學檢測儀（ALD520）產品特性
01.環形塔狀四色光源，可根據不同檢測需要進行切換
02.靈活應對波峰焊、印刷后、爐前、爐后、鍵盤的檢測
03.模塊化軟硬件界面、保姆式操作流程
04.高清晰3CCD全彩數字相機，一體化視覺系統
05.自動畫框、CAD數據導入自動搜索元件庫
06.測試速度滿足1.5條以上貼片線的檢測需求
07.真正細小0201的檢測能力，對應01005的升級方案
08.SPC與AOI無縫連接，實時掌握工藝信息，保障品質
09.離線編程軟件可應對ALeader機型
10.遠程控制與MSDE中心服務器管理模式
AOI自動光學檢測儀（ALD520）設備技術參數
檢測的電路板：通孔和混合技術的SMT錫膏印刷后及回焊爐前和回焊爐后電路板檢查
檢測方法：統計建模，全彩色圖像比對，根據不同檢測點自動設定其參數（如偏移、性、短路等）
檢測覆蓋類型：錫膏印刷：有無、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等
件缺陷：缺件、偏移、歪斜、立碑、側立、翻件、錯件，OCV、破損、反向等
焊點缺陷：錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等
分辨率/視覺范圍/速度：（standard）20µm/Pixel FOV : 27.84×20.8檢測速度＜210ms/FOV（標配）（option）15µm/Pixel FOV : 20.88×15.6檢測速度＜190ms/FOV（選配）
小件測試：20µm：0201chip & 0.3pitch IC
PCB尺寸范圍：50×50mm(Min)～430×330mm(Max)
檢測的電路板： | 通孔和混合技術的SMT錫膏印刷后及回焊爐前和回焊爐后電路板檢查 |
檢測方法： | 統計建模，全彩色圖像比對，根據不同檢測點自動設定其參數（如偏移、性、短路等）
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檢測覆蓋類型： | 錫膏印刷：有無、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等 |
件缺陷： | 缺件、偏移、歪斜、立碑、側立、翻件、錯件，OCV、破損、反向等
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焊點缺陷： | 錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等 |
分辨率/視覺范圍/速度： | （standard）20µm/Pixel FOV : 27.84×20.8檢測速度＜210ms/FOV（標配）（option）15µm/Pixel FOV : 20.88×15.6檢測速度＜190ms/FOV（選配）
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小件測試： | 20µm：0201chip & 0.3pitch IC |
PCB尺寸范圍： | 50×50mm(Min)～430×330mm(Max)
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