產品描述：
美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用業界的多孔毛細管光學聚焦裝置，縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍X射線激發強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），拓展元素分析范圍，適應嚴格的微區、鍍層，以及痕量元素分析需求。
的測試性能、突出的微區測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩定的X射線管
● 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
● 射線出射點預置于射線管Be窗正
● 長壽命的射線管燈絲
● 的預熱和ISO溫度適應程序
多毛細管聚焦光學結構
● 顯著X射線信號強度
● 獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度
● 小于100um直徑的測量斑點
● 經過驗證，接近的測量
應用領域：
常見的鍍層應用:
PCB行業
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導體行業
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等
