XPF-550C透反射偏光顯微鏡（完整配置）
一、XPF-550C系列偏光顯微鏡的用途和特點:
XPF-550C透反射偏光顯微鏡（完整配置）采用的無限遠光路系統，主要用于鑒別具有雙折射特性的物質,是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校的實驗儀器。隨著光學技術的不斷進步，偏光顯微鏡的應用范圍也越來越廣闊，可廣泛應用于地質、化工、、藥品等領域的研究與檢驗，也可進行液態高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，高偏光載物臺，優良的偏振觀察附件，是一組具有較功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機,對圖片進行保存、編輯和打印。
二、XPF-550C透反射偏光顯微鏡（完整配置）性能特點
1、無限遠光路系統，配置長工作距離無限遠平場物鏡(中心可調)與φ22mm大視野目鏡,
的物鏡配置,滿足各種放大倍數要求
2、粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值: 2μm
3、可拆卸式起偏器，透反射偏光的起偏和檢偏都可360?旋轉,檢偏帶刻度顯示
4、寬電壓電源(85-265V 47-60HZ). 6V30W鹵素燈照明，亮度可調,燈泡位置可調
5、具備偏光觀察和反射偏光觀察
6、800萬像素數字CCD芯片,研究級攝像機,成像清晰度高,操作方便
7、的圖像處理功能,能做各方面顯微分析功能.
三、XPF-550C透反射偏光顯微鏡的技術參數:
目鏡 | 視野 | WF10X(Φ22mm) | |
平場分劃 | 10X(視場數Φ22mm)格值0.10mm/格 | ||
物鏡
| 遠長工作距離無應力平場消色差物鏡 | 放大倍數/數值孔徑 | 工作距離 |
PL5X/0.12 | 26.1mm | ||
PLL10X/0.25 | 20.2mm | ||
PLL20X/0.40 | 8.8mm | ||
PLL40X/0.60（彈簧） | 3.98mm | ||
PLL50X/0.70（彈簧） | 3.68 mm | ||
PL60X/0.85（彈簧） | 3.18mm | ||
PLL80X/0.80（彈簧） | 1.25 mm | ||
PLL100X(干鏡) | 0.35mm | ||
目鏡筒 | 三目鏡 | 轉軸式三目鏡，傾斜30度，可進行100%透光攝影,視度&plun;5調節 瞳距調節范圍:55-75mm | |
調焦機構 | 粗微動同軸調焦,微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | ||
中繼鏡 | 內置勃氏鏡 | ||
勃氏鏡 | 推入式勃氏鏡，中心可調 | ||
補償器 | λ補償器、λ/4補償器、石英鍥補償器 | ||
轉換器 | 五孔內彎式物鏡轉換器(聲響定位) | ||
載物臺 | 旋轉式載物臺,直徑：Φ150mm,360°等分刻度,游標格值6'，中心可調,帶鎖緊裝置 | ||
移動尺 | 置于載物臺上,移動范圍30mmX25mm | ||
阿貝聚光鏡 | NA.1.25可上下升降,聚光鏡光欄可調,帶濾座,帶可擺出擺入附加聚光鏡片 | ||
起偏器 | 可360°偏振方向旋轉和刻度顯示，有0、90、180、270四個檔位 | ||
集光器 | 鹵素燈照明適用,帶視場大小調節的集光器 | ||
照明系統 | 透反射光源,配6V 30W鹵素燈,亮度單獨控制,可亮度調節 | ||
反射系統 | 起偏器可360°旋轉，檢偏器360?可調,帶刻度和微動游標,起偏和檢偏均可移出光路 反射濾:轉盤式藍、黃、綠、磨砂濾組 反射光路帶視場光欄、孔徑光欄調節，光源中心調節 6V30W反射光源燈箱，燈泡可移動 | ||
系統 | 起偏器可360°旋轉，有0、90、180、270四個讀數 檢偏器360?可調,帶刻度和微動游標，集光器鹵素燈照明適用， 聚光鏡：帶光欄調節的阿貝聚光鏡N.A. 1.25，可上下升降和光源中心調節 濾：藍色和磨砂玻璃濾 6V30W光源，裝入底座，亮度可調 | ||
CK800C攝像系統 | CCD芯片廠商 Sony CCD掃描模式 隔行掃描 CCD尺寸 1/1.8英寸 像素點2.2微米X 2.2微米 G靈敏度 170mV 分辨率3280HX2460V 濾光片 R、G、B 鏡頭接口 標準C接口 幀率 30幀/秒（640X480）2幀/秒（3280X2460）ROI 低速讀出 可以 模數轉換 8/1it 曝光控制 自動、手動 曝光時間 1毫秒-60分鐘 邊角亮光抑制 有 白平衡 自動、手動 參數調整 圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB等 數據接口 U2.0/480Mb/s U電纜 2.5米 U電源 U2.0 整機尺寸 100mm*81mm*48mm(HXBXT) 重量 450克 操作溫度 0-60℃ 操作濕度 45%-85% 保存溫度 -20-70℃ | ||
偏光分析系統 | 我司自主設計開發的DP-3000偏光圖像分析系統是為從事巖石圖像分析的單位或個人專門開發的一套計算機軟件系統，它的基本原理是：用視頻采集卡或數碼相機等硬件設備，采集到顯微鏡中的巖石圖片，再對該圖片進行處理和分析，得到相關檢驗結果。 DP-3000偏光自動分析軟件功能: 1、圖像處理：菜單中提供了十余種方法進行圖像處理方法：圖像還原、亮度調整、對比度調整、顏色調整、轉換為灰度圖像、灰度自動色階、二值化處理、去除雜點、連接斷線、反相、通道、銳化、柔化、邊緣增強、中值濾波去噪等處理和調節圖像的方法 2、自動分析：自動分析是按選定功能模塊對巖石圖像進行自動分析，具體分析功能如下： （1）巖石薄片粒度分析(測量直徑) （2）鑄體薄片孔隙特征分析(測量面積) （3）巖石薄片粒度分析(自動計算) （4）鑄體薄片孔隙特征分析(自動計算) （5）鑄體薄片孔隙特征分析(自動計算2) （6）鑄體薄片孔隙特征分析(測試) （7）金剛石圖像分析(自動計算) （8）碎屑巖粒度分析方法(自動計算) （9）巖石孔隙結構特征的測定(圖像法) 3、打開：打開已經保存好的檢驗 4、幾何測量：可選擇“測量距離”、“測量矩形”、“測量圓形”、“測量多邊形”、“測量角度”、“測量兩直線夾角”、“測量折線長度”、“測量弧度”等工具，以及“兩點法”、“拖動法”等測量方法進行幾何測量。具體方法是：先選中測量工具，再用鼠標在圖片上拖動。 5、定倍打印：可對圖片進行圖像處理，并設置不同的說明文字和打印版面，并設定需要打印的倍數。 |
四、系統的組成：
1、透反射偏光顯微鏡XPF-550 2、電腦適配鏡
3、彩色CCD攝像器(800萬像素) 4、DP-3000偏光分析軟件
800萬像素攝像器連接顯微鏡 DP-3000偏光分析軟件
