- 產(chǎn)品品牌：
- -ATPS擴(kuò)聲系統(tǒng)測(cè)試
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 邊界掃描硬件部分
- 類型：
- 0
邊界掃描測(cè)試發(fā)展于上個(gè)世紀(jì)90年代，隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)，印制電路板制造工藝向小，微，薄發(fā)展，傳統(tǒng)的ICT 測(cè)試已經(jīng)沒(méi)有辦法滿足這類產(chǎn)品的測(cè)試要求。由于芯片的引腳多，元器件體積小，板的密度特別大，根本沒(méi)有辦法進(jìn)行下探針測(cè)試。一種新的測(cè)試技術(shù)產(chǎn)生了，聯(lián)合測(cè)試行為組織（Joint Test Action Group）簡(jiǎn)稱JTAG 定義這種新的測(cè)試方法即邊界掃描測(cè)試。被國(guó)際電工委員會(huì)收錄為IEEE1149.1-1990 邊界掃描測(cè)試測(cè)試訪問(wèn)端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描測(cè)試所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充，形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于：電路的邊界掃描測(cè)試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
