| 品牌：美國麥克儀器 型號：NAPLUS |
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| 詳細說明: |
NaPlus是一款新型的、具有寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。 該款儀器具有以下技術特點：
產品應用：
半導體 研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
醫藥和食品行業 乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面劑功能研究（微囊）。
陶瓷和顏料工業 表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領域 乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。 |
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黃經理
