EDX-280型 X熒光分析儀具有分析高、測試速度快、測試簡單等優點。可滿足RoHS/WEEE相關管控要求，合國際電工委員會IEC62321標準及中國標準所規定的技術要求和技術規范。
u 應用領域
1.檢測以銅合金、鐵合金、及其它合金類產品:鉛黃銅、鎳黃銅、錳黃銅、錫黃銅、錫青銅、鎳白銅、鋅白銅等樣品.
2．分析Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
3．對RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）進行精準測試及無鹵測試。
4．金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定分析。
u 性能特點
1.檢測樣品為規則樣品與不規則樣品，包括塊狀、片狀、線狀。樣品類型為塑膠、金屬、粉末、液體。
2.高壓電源。功率50 W。電壓0 -50 KV，電流0-10uA。
3.X光管。功率50W，管壓5-50KV ；管流電流0-10uA。
4.原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
5.高信噪比的電子線路系統。
6.八個準直器和四個濾光片的電動組合，軟體自動切換，滿足各種測試方式的應用，降低分析元素附近的背景強度，分析限。
7.多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制，分析準確度。
8.內置高清晰攝像頭，的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測的組成部分。
9.載物測試平臺，配有微調裝置，實現檢測物的定位與檢測區域的理想調整。
10.小樣品腔尺寸(閉倉門測試)：460×298×150mm。大樣品腔尺寸(開倉門測試)：無限制，部分取代手持式功能。
1.三維散熱系統：大幅度提供儀器的性、穩定性。
12.輻射系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線護系統。
13. 分析軟件：國際的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，測試數據的準確性。
u 技術指標
1.測量元素范圍：從硫（S）到鈾（U）。
2.元素含量分析范圍： ppm—9.9%（不同元素，分析范圍不同）。
3.同時分析元素：性可測幾十種元素。
4.測量時間：60秒-20秒。
5.樣品類型：塑膠、金屬、粉末、液體。
6.檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作環境：溫度為溫度 15～30℃ 濕度 ≤85% （不結露）。
8.電源：交流20V&plun;5V,選配高參數穩壓電源。
9.分辨率能149eV&plun;5。
10.樣品腔尺寸：460×298×150mm。
1. 外觀尺寸：50×416×3mm。
12.電源：AC 20V～240V、50Hz。
13.額定功率：80W。
14.重量：約45KG.
u 主體配置
1.薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高壓電源。
3.原裝美國電制冷Si-Pin半導體探測器。
4.大樣品測量腔。
5.移動平臺。
6.光路增強系統。
7.高信噪比電子線路系統。
8.高清晰攝像頭。
9.自動切換型準直器和濾光片。
10.三重保護模式。
1.整體鋼架結構，力度的。
12.計算機、液晶顯示器、激光打印機。
13.分析軟件。
14.標準物質：銀校正標樣等。
15.儀器的其它配置：樣品杯 、測試薄膜、保險絲。
u 應用領域
1.檢測以銅合金、鐵合金、及其它合金類產品:鉛黃銅、鎳黃銅、錳黃銅、錫黃銅、錫青銅、鎳白銅、鋅白銅等樣品.
2．分析Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
3．對RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）進行精準測試及無鹵測試。
4．金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定分析。
u 性能特點
1.檢測樣品為規則樣品與不規則樣品，包括塊狀、片狀、線狀。樣品類型為塑膠、金屬、粉末、液體。
2.高壓電源。功率50 W。電壓0 -50 KV，電流0-10uA。
3.X光管。功率50W，管壓5-50KV ；管流電流0-10uA。
4.原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
5.高信噪比的電子線路系統。
6.八個準直器和四個濾光片的電動組合，軟體自動切換，滿足各種測試方式的應用，降低分析元素附近的背景強度，分析限。
7.多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制，分析準確度。
8.內置高清晰攝像頭，的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測的組成部分。
9.載物測試平臺，配有微調裝置，實現檢測物的定位與檢測區域的理想調整。
10.小樣品腔尺寸(閉倉門測試)：460×298×150mm。大樣品腔尺寸(開倉門測試)：無限制，部分取代手持式功能。
1.三維散熱系統：大幅度提供儀器的性、穩定性。
12.輻射系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線護系統。
13. 分析軟件：國際的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，測試數據的準確性。
u 技術指標
1.測量元素范圍：從硫（S）到鈾（U）。
2.元素含量分析范圍： ppm—9.9%（不同元素，分析范圍不同）。
3.同時分析元素：性可測幾十種元素。
4.測量時間：60秒-20秒。
5.樣品類型：塑膠、金屬、粉末、液體。
6.檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作環境：溫度為溫度 15～30℃ 濕度 ≤85% （不結露）。
8.電源：交流20V&plun;5V,選配高參數穩壓電源。
9.分辨率能149eV&plun;5。
10.樣品腔尺寸：460×298×150mm。
1. 外觀尺寸：50×416×3mm。
12.電源：AC 20V～240V、50Hz。
13.額定功率：80W。
14.重量：約45KG.
u 主體配置
1.薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高壓電源。
3.原裝美國電制冷Si-Pin半導體探測器。
4.大樣品測量腔。
5.移動平臺。
6.光路增強系統。
7.高信噪比電子線路系統。
8.高清晰攝像頭。
9.自動切換型準直器和濾光片。
10.三重保護模式。
1.整體鋼架結構，力度的。
12.計算機、液晶顯示器、激光打印機。
13.分析軟件。
14.標準物質：銀校正標樣等。
15.儀器的其它配置：樣品杯 、測試薄膜、保險絲。
