詳細信息
　　X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品，對產生的熒光X射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。是近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法規為代表的綠色采購及環境分析之中，要求更為微量、更為的分析。
　　為滿足這種需求，的EDX系列了更高的靈敏度與。
　　
　　測定原理　X射線熒光分析法
　　
　　測定方法能量色散型
　　
　　測定對象固體、液體、粉狀
　　
　　測定范圍　13Ai~92U
　　
　　樣品室尺寸W370*D320*H155mm
　　
　　測定ppm級的有害金屬！
　　應對WEEE＆RoHS、ELV等有害物質相關法規。
　　應對ASTM　F963，EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，產品和用料的綠色。
　　
　　X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品，對產生的熒光X射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。是近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法規為代表的綠色采購及環境分析之中，要求更為微量、更為的分析。
　　為滿足這種需求，的EDX系列了更高的靈敏度與。