PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺具有對半導體器件常溫測試，高溫熱測（不需要外加烘箱），熱敏參數的快速篩選取代直流滿功率老煉三大功能，并可任意選用及組合使用。晶體管熱敏參數的快速篩選技術，是采用在短時間內（一般為數秒）對晶體管施加穩態額定功率的辦法，使晶體管的結溫接近或允許結溫TjM，通過快速檢測晶體管熱敏參數VBE、ICEO（或ICBO）和hFE，及其在加功率前后的變化量、變化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此為失效判據參量，淘汰標的晶體管，剔除早期失效器件，產品批的質量和性的目的，同時，所施加的穩態額定功率模擬了被試管實際使用時可能出現的浪涌電壓、電流等應力，以考核被試管承受沖擊的能力。該快速篩選方法不能替代直流滿功率老煉，快速剔除有潛在缺陷的器件，而且更加科學合理，并已列為行業標準SJ／T10415—93及國軍標G128A—97.
PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺已在原快速篩選儀器上作了大大改進，不但能按規定進行晶體管熱敏參數的快篩，而且可作常規直流參數測試儀器使用，具有的測試量程和，只要調用被測器件的型號，就能進入快速連續檢測。當被測器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動保護能力。
PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺已在原快速篩選儀器上作了大大改進，不但能按規定進行晶體管熱敏參數的快篩，而且可作常規直流參數測試儀器使用，具有的測試量程和，只要調用被測器件的型號，就能進入快速連續檢測。當被測器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動保護能力。
