GS系列光柵尺
【的光學測量系統】
讀數頭滑動部份結構采用已被驗證為、耐用的五軸承設計，光學感應系統能長期穩定地在光柵尺上暢順滑行。彈簧的幾何設計經過詳細的力學模型分析，并采用的彈簧鋼材制造，光學感應系統就算在移動的情況下，仍能緊貼在光柵尺上無跳動地滑行。軸承均采用日本JIS規格P5等級高軸承，滑行順暢，跳動量低，耐用。
【雙層護膠封設計】
采用新開發的耐油、及老化膠封，由Eon工程師精心設計閉合角度和適合的軟硬度，的密封性能和少的摩擦阻力。
【每支尺激光校驗】
每一支尺出廠前，均采用美國hp公司的雙頻激光、作度校驗，
本公司所生產的任何一支尺，均能規格表上列出的度。
【單片式IC作分頻／倍頻】
GS系列光學式電子尺采用單片式IC作分頻／倍頻，使用全硬件式相位移原理作分頻／倍頻，務求將測量的實時誤差減至可能的，采用單片式IC，相位移操作均在同一晶片內進行，由于晶片內的半導體電阻溫度系數是一致的，因此大大減少因溫度變化而生產的細分誤差。
【提供工業標準的數字式輸出訊號】
GS系列光學式電子尺的輸出訊號均為數字式訊號，提供TTL和工業標準的RS-422-A接口輸出標準供用戶選擇，用戶可按自已的成本要求，電源驅動要求和干擾要求，選擇適合的接口標準。此外，用戶也可以選擇通用的DSUB9接頭或傳統的 DIN7接頭。
【的光學測量系統】
讀數頭滑動部份結構采用已被驗證為、耐用的五軸承設計，光學感應系統能長期穩定地在光柵尺上暢順滑行。彈簧的幾何設計經過詳細的力學模型分析，并采用的彈簧鋼材制造，光學感應系統就算在移動的情況下，仍能緊貼在光柵尺上無跳動地滑行。軸承均采用日本JIS規格P5等級高軸承，滑行順暢，跳動量低，耐用。
【雙層護膠封設計】
采用新開發的耐油、及老化膠封，由Eon工程師精心設計閉合角度和適合的軟硬度，的密封性能和少的摩擦阻力。
【每支尺激光校驗】
每一支尺出廠前，均采用美國hp公司的雙頻激光、作度校驗，
本公司所生產的任何一支尺，均能規格表上列出的度。
【單片式IC作分頻／倍頻】
GS系列光學式電子尺采用單片式IC作分頻／倍頻，使用全硬件式相位移原理作分頻／倍頻，務求將測量的實時誤差減至可能的，采用單片式IC，相位移操作均在同一晶片內進行，由于晶片內的半導體電阻溫度系數是一致的，因此大大減少因溫度變化而生產的細分誤差。
【提供工業標準的數字式輸出訊號】
GS系列光學式電子尺的輸出訊號均為數字式訊號，提供TTL和工業標準的RS-422-A接口輸出標準供用戶選擇，用戶可按自已的成本要求，電源驅動要求和干擾要求，選擇適合的接口標準。此外，用戶也可以選擇通用的DSUB9接頭或傳統的 DIN7接頭。
