X-Strata920鍍層測厚儀
熒光分析儀 X-Strata920是一款率、快速的鍍層厚度測量及材料分析設備。
X-Strata920在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920為這些行業提供了：
以更的過程控制來生產力
有助電鍍過程中的生產成本小化、產量化
快速地分析珠寶及其他合金
快速分析多達4層鍍層
經行業的技術和性，每年都帶來收益
操作簡單，要簡單的培訓
熒光分析儀 X-Strata920是一款率、快速的鍍層厚度測量及材料分析設備。
X-Strata920在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920為這些行業提供了：
以更的過程控制來生產力
有助電鍍過程中的生產成本小化、產量化
快速地分析珠寶及其他合金
快速分析多達4層鍍層
經行業的技術和性，每年都帶來收益
操作簡單，要簡單的培訓
其他說明
| 主要規格 | 規格描述 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| X射線激發系統 | 垂直下照式X射線光學系統 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 標準靶材:Rh靶;任選靶材:W,Mo,Ag等 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 裝備有射線光閘 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質,多種厚度的二次濾光片任選 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 準直器系統 | 單準直器組件 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多準直器自動控制組件:多可同時裝配6種規格的準直器 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
圓形,矩形和多種規格尺寸準直器任選(紅色為常用的):
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| 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品室 | 開槽式樣品室 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XY軸移動范圍 | 標準:152.4 x 177.8mm<程控> | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Z軸程控移動高度 | 43.18mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XYZ軸控制方式 |
多種控制方式任選: XYZ三軸程序控制; XY軸手動控制和Z軸程序控制; XYZ三軸手動控制 |
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| 樣品觀察系統 |
高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍. 50倍和100倍觀察系統任選. |
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| 激光自動對焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 計算機系統配置 |
IBM計算機 佳能或愛普生彩色噴墨打印機 |
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| 分析應用軟件 |
操作系統:Windows XP中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 |
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| 測厚范圍 | 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 基本分析功能 | 采用基本參數法校正.牛津儀器將根據您的應用提供要的校正用標準樣品; | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品種類:鍍層; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可檢測元素范圍:Ti22 –U92; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 貴金屬檢測,如Au karat評價; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料和合金元素分析; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料鑒別和分類檢測; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 元素光譜定性分析. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 調整和校正功能 | 系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式:"Point and Shoot" | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多點自動測量模式:隨機模式,線性模式,梯度模式,掃描模式,重復測量模式 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測量位置預覽功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 激光對焦和自動對焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品臺程控功能 | 設定測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 連續多點測量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測量位置預覽(圖表顯示) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 統計計算功能 | 平均值,標準偏差,相對標準偏差,值,小值,數據變動范圍,數據編號,CP,CPK,控制上限圖,控制下限圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 任選軟件:統計編輯器允許用戶自定義多媒體書 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數據分組,X-bar/R圖表,直方圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數據庫存儲功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 系統監測功能 |
Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 |
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