SVM Ⅱ影像測量儀

　　產品介紹：
　　SVM系列光學影像測量機是利用光學放大成像，將顯微鏡下觀測到的物體影像數字化，結合控制軟件進物體的幾何尺寸測量以及繪圖，并可將數據表格化以及進行后期處理。適用于機械、電子、電器、模具以及精密五金的檢測和設計開發。

　　功能：
　　幾何元素測量、組合元素測量、幾何元素構造、形位公差評定、逆向工程等，各種報表的輸出。

　　設備特點：
　　u 采用全花崗石底座、支柱，機械系統的穩定性
　　u 表面環形光和輪廓光均采用連續可調的LED冷光源，避免造成被測物體的熱變形，使用壽命長
　　u 平行輪廓光，邊界更清晰，測量
　　多種格式輸出
　　將測量結果以不同形式輸出，便于客戶的后期使用。
　　SPC輸出
　　通過對數據的采樣、管制、分析，軟件會對生產過程進行評估，并給出相關結果和圖形。

　　技術參數：
　　型號：SVM 4030 II
　　u 行程（X，Y，Z）：400 mm X 300 mm X 200 mm
　　u 光柵尺分辨率：1μm（X、Y，如果選擇TASTAR測頭，Z軸需要增加光柵尺）
　　u 變焦物鏡倍率：0.7 X--4.5X
　　u 攝像機：1/3”SONY彩色CCD 攝像機
　　u 工作距離：90 mm
　　u 物方視場：8.2 mm~1.2 mm
　　u 總放大倍率：18 X~120 X
　　u 光源：表面環形光采用白色LED，輪廓光采用綠色LED，亮度可無調節
　　u 電源：220 V，50 Hz
　　u 工作臺承重：10kg
　　u 控制方式：手動
　　u 測量：（3.0＋L/150）μm