I測試治具：
　　◆I測試治具即InCircuitest測試治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設(shè)備。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷、故障定位準確等特點，I測試治具可進行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需制作的針床，這個針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它I測試治具。
　　
　　◆I測試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，使用壓克力＆電木＆FR-4材質(zhì)（或指定），直接gerber文件處理生成鉆孔文件，鉆孔。測試程式自動生成，避免手工輸入出錯之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord等I機型。兩被測點或被測點與預鉆孔之中心距不得小于0.050"（1.27mm）。以大于0.100"（2.54mm）為佳，其次是0.075"（1.905mm）。
　　
　　◆I測試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量，對二管、三管、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試，對中小規(guī)模的集成電路進行功能測試，如74系列、Memory 類、常用驅(qū)動類、交換類等IC.
　　
　　◆I測試治具通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點上，故障定位準確。對故障的維修不需較多知識。采用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。
　　
　　◆在線測試通常是生產(chǎn)中道測試工序，能及時反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進和。I測試治具測試過的故障板，因故障定位準，維修方便，可大幅生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)的重要測試手段之一。