功能測(cè)試針對(duì)模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試過程包括大量的重要功能通路測(cè)試，結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（硬件錯(cuò)誤），將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元（UUT）上，同時(shí)監(jiān)測(cè)相應(yīng)多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)。測(cè)試過程要控制對(duì)UUT的激勵(lì)響應(yīng)過程。
隨著電子技術(shù)的日益發(fā)展，各種新的測(cè)試技術(shù)不斷涌現(xiàn)，各有側(cè)重，相互補(bǔ)充。光學(xué)與X射線是針對(duì)焊點(diǎn)質(zhì)量做圖像檢查、飛針或針床的I是針對(duì)電路的連通及器件本身做電測(cè)試。功能測(cè)試作為PCBA（Printed Cirruit Board Assembly）的一種測(cè)試方法，在生產(chǎn)測(cè)試工序中，位于AOI，X-ray，I測(cè)試之后，在系統(tǒng)聯(lián)機(jī)測(cè)試之前。FT測(cè)試是產(chǎn)品到終應(yīng)用環(huán)境時(shí)立刻就能工作的不可少的手段。FT是檢測(cè)UUT整體電性能是否良好的真實(shí)、準(zhǔn)確的測(cè)試方法。
I，AOI，X-ray測(cè)試方有測(cè)試覆蓋率低，測(cè)點(diǎn)接觸困難，誤判，錯(cuò)判，等問題，有些UUT通過了這些測(cè)試流程，但卻無(wú)法正常工作。FT的優(yōu)點(diǎn)是利用電信號(hào)對(duì)UUT做激勵(lì)、檢測(cè)、控制、觀察。是直觀、直接的檢測(cè)UUT是否正常工作的準(zhǔn)確可信的手段。是一些需要工廠調(diào)試、校準(zhǔn)等過程參與的工序，F(xiàn)T的作用是的。
功能測(cè)試可以在產(chǎn)品制造周期的不同階段實(shí)施。先是工程開發(fā)階段，通過FT在系統(tǒng)生產(chǎn)前驗(yàn)證新產(chǎn)品功能；然后在生產(chǎn)中，通過對(duì)電路板級(jí)的功能測(cè)，降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本（遺漏成本）；后在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)，它可以現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)問題，現(xiàn)場(chǎng)解決，功能正常而不送回工廠修理。
FT10主要用途：
其測(cè)試自動(dòng)化程度高，可PCBA 測(cè)試效率和，避免人為因素的干擾；可以縮短電路板檢測(cè)、調(diào)試的周期和時(shí)間，為企業(yè)節(jié)省開支；可將生產(chǎn)線上的各種測(cè)試環(huán)節(jié)進(jìn)行優(yōu)化，簡(jiǎn)化質(zhì)量管控工序和方法；用戶通過簡(jiǎn)單編程，即可使用，培訓(xùn)時(shí)間縮短?？梢詰?yīng)用于電路板PCBA的功能檢測(cè)領(lǐng)域，適用于汽車電子、航空航天、、交通、，通訊等各種電子產(chǎn)品。
FT10主要功能：
一個(gè)完整的功能測(cè)試過程可以分為四個(gè)階段：狀態(tài)設(shè)置，信號(hào)采集，數(shù)輸和數(shù)據(jù)處理。
狀態(tài)設(shè)置模塊化的測(cè)試結(jié)構(gòu)體系，為UUT提供所需要的函數(shù)發(fā)生器功能，多種數(shù)字信號(hào)或模擬信號(hào)，提供它需要的多種負(fù)載，UUT工作在特定的狀態(tài)。
數(shù)據(jù)采集采用模塊化的設(shè)計(jì)思想，根據(jù)客戶的需要可以任意的增減儀表模塊及通道板卡數(shù)量，豐富的模塊涵蓋了從低頻到射頻、從低壓到高壓，從小電流到大電流幾乎的電信號(hào)測(cè)量的應(yīng)用。
數(shù)輸時(shí)間是指采集模塊將采集到的數(shù)輸?shù)教幚砥魉牡臅r(shí)間，采用PXI總線系統(tǒng)。與以往的總線傳輸速度相比，PXI系統(tǒng)的傳輸速度和特性都具有為明顯的優(yōu)勢(shì)。
數(shù)據(jù)處理時(shí)間則更多的體現(xiàn)在處理器的能力上，PXI系統(tǒng)以商用操作系統(tǒng)Windows為基礎(chǔ)，使用PC的CPU進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，了其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力。
FT10主要特點(diǎn)
1.兼容性好，在測(cè)試不同的PCB板時(shí)，無(wú)須投入更多的金錢和時(shí)間，只要更新相應(yīng)的測(cè)試治具，就能實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；支持硬件升級(jí)，保護(hù)用戶投資；
2.開放的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可方便的增加和刪除功能部件；
3.開放的軟件開發(fā)環(huán)境，可實(shí)現(xiàn)不同功能部件的即插即用；
4.完善的機(jī)械架構(gòu)，良好的散熱系統(tǒng)，使得系統(tǒng)具有強(qiáng)穩(wěn)定性；
5.完善的測(cè)試體系，豐富的測(cè)試對(duì)象類型?？?00％模擬用戶UUT的實(shí)際運(yùn)行環(huán)境?？删幊虒?shí)現(xiàn)多種特異性的激勵(lì)信號(hào)；
6.根據(jù)需要可測(cè)量采集各種電參數(shù)包括電壓、電流、電阻、頻率、波形，信噪比等信號(hào)進(jìn)行測(cè)量、分析和統(tǒng)計(jì)，速度快、高；
7.用戶根據(jù)自己需要定義測(cè)試步驟和測(cè)試要求；方便的設(shè)置測(cè)量參數(shù)的小值或誤差范圍等信息；
8.用戶權(quán)限管理：更改用戶權(quán)限，管理員身份和測(cè)試員身份等識(shí)別，設(shè)置用戶的登錄名稱、和權(quán)限、工號(hào)設(shè)置等；
9.借助Labview強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)分析能力，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種統(tǒng)計(jì)分析，信號(hào)的濾波、信號(hào)調(diào)理、信號(hào)運(yùn)算、信號(hào)的測(cè)量等等；
10.大的數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)每個(gè)UUT產(chǎn)生詳細(xì)的測(cè)試，存儲(chǔ)信息，便于查看，追蹤原因等；
11.記錄矩陣開關(guān)的連接信息，方便手動(dòng)操作調(diào)試；
12.測(cè)試步驟可以單步、也可以連續(xù)運(yùn)行；
13.運(yùn)行：系統(tǒng)中無(wú)硬件時(shí)，軟件可以運(yùn)行；
14.系統(tǒng)支持遠(yuǎn)程調(diào)試以及遠(yuǎn)程故障診斷；
15.開機(jī)自檢功能，具備治具的自動(dòng)檢測(cè)功能，多種保護(hù)措施設(shè)備運(yùn)行；
16.測(cè)試程序無(wú)需調(diào)試，系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試步驟的優(yōu)化、測(cè)試排序以及測(cè)試參數(shù)選擇；
隨著電子技術(shù)的日益發(fā)展，各種新的測(cè)試技術(shù)不斷涌現(xiàn)，各有側(cè)重，相互補(bǔ)充。光學(xué)與X射線是針對(duì)焊點(diǎn)質(zhì)量做圖像檢查、飛針或針床的I是針對(duì)電路的連通及器件本身做電測(cè)試。功能測(cè)試作為PCBA（Printed Cirruit Board Assembly）的一種測(cè)試方法，在生產(chǎn)測(cè)試工序中，位于AOI，X-ray，I測(cè)試之后，在系統(tǒng)聯(lián)機(jī)測(cè)試之前。FT測(cè)試是產(chǎn)品到終應(yīng)用環(huán)境時(shí)立刻就能工作的不可少的手段。FT是檢測(cè)UUT整體電性能是否良好的真實(shí)、準(zhǔn)確的測(cè)試方法。
I，AOI，X-ray測(cè)試方有測(cè)試覆蓋率低，測(cè)點(diǎn)接觸困難，誤判，錯(cuò)判，等問題，有些UUT通過了這些測(cè)試流程，但卻無(wú)法正常工作。FT的優(yōu)點(diǎn)是利用電信號(hào)對(duì)UUT做激勵(lì)、檢測(cè)、控制、觀察。是直觀、直接的檢測(cè)UUT是否正常工作的準(zhǔn)確可信的手段。是一些需要工廠調(diào)試、校準(zhǔn)等過程參與的工序，F(xiàn)T的作用是的。
功能測(cè)試可以在產(chǎn)品制造周期的不同階段實(shí)施。先是工程開發(fā)階段，通過FT在系統(tǒng)生產(chǎn)前驗(yàn)證新產(chǎn)品功能；然后在生產(chǎn)中，通過對(duì)電路板級(jí)的功能測(cè)，降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本（遺漏成本）；后在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)，它可以現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)問題，現(xiàn)場(chǎng)解決，功能正常而不送回工廠修理。
FT10主要用途：
其測(cè)試自動(dòng)化程度高，可PCBA 測(cè)試效率和，避免人為因素的干擾；可以縮短電路板檢測(cè)、調(diào)試的周期和時(shí)間，為企業(yè)節(jié)省開支；可將生產(chǎn)線上的各種測(cè)試環(huán)節(jié)進(jìn)行優(yōu)化，簡(jiǎn)化質(zhì)量管控工序和方法；用戶通過簡(jiǎn)單編程，即可使用，培訓(xùn)時(shí)間縮短?？梢詰?yīng)用于電路板PCBA的功能檢測(cè)領(lǐng)域，適用于汽車電子、航空航天、、交通、，通訊等各種電子產(chǎn)品。
FT10主要功能：
一個(gè)完整的功能測(cè)試過程可以分為四個(gè)階段：狀態(tài)設(shè)置，信號(hào)采集，數(shù)輸和數(shù)據(jù)處理。
狀態(tài)設(shè)置模塊化的測(cè)試結(jié)構(gòu)體系，為UUT提供所需要的函數(shù)發(fā)生器功能，多種數(shù)字信號(hào)或模擬信號(hào)，提供它需要的多種負(fù)載，UUT工作在特定的狀態(tài)。
數(shù)據(jù)采集采用模塊化的設(shè)計(jì)思想，根據(jù)客戶的需要可以任意的增減儀表模塊及通道板卡數(shù)量，豐富的模塊涵蓋了從低頻到射頻、從低壓到高壓，從小電流到大電流幾乎的電信號(hào)測(cè)量的應(yīng)用。
數(shù)輸時(shí)間是指采集模塊將采集到的數(shù)輸?shù)教幚砥魉牡臅r(shí)間，采用PXI總線系統(tǒng)。與以往的總線傳輸速度相比，PXI系統(tǒng)的傳輸速度和特性都具有為明顯的優(yōu)勢(shì)。
數(shù)據(jù)處理時(shí)間則更多的體現(xiàn)在處理器的能力上，PXI系統(tǒng)以商用操作系統(tǒng)Windows為基礎(chǔ)，使用PC的CPU進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，了其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力。
FT10主要特點(diǎn)
1.兼容性好，在測(cè)試不同的PCB板時(shí)，無(wú)須投入更多的金錢和時(shí)間，只要更新相應(yīng)的測(cè)試治具，就能實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；支持硬件升級(jí)，保護(hù)用戶投資；
2.開放的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可方便的增加和刪除功能部件；
3.開放的軟件開發(fā)環(huán)境，可實(shí)現(xiàn)不同功能部件的即插即用；
4.完善的機(jī)械架構(gòu)，良好的散熱系統(tǒng)，使得系統(tǒng)具有強(qiáng)穩(wěn)定性；
5.完善的測(cè)試體系，豐富的測(cè)試對(duì)象類型?？?00％模擬用戶UUT的實(shí)際運(yùn)行環(huán)境?？删幊虒?shí)現(xiàn)多種特異性的激勵(lì)信號(hào)；
6.根據(jù)需要可測(cè)量采集各種電參數(shù)包括電壓、電流、電阻、頻率、波形，信噪比等信號(hào)進(jìn)行測(cè)量、分析和統(tǒng)計(jì)，速度快、高；
7.用戶根據(jù)自己需要定義測(cè)試步驟和測(cè)試要求；方便的設(shè)置測(cè)量參數(shù)的小值或誤差范圍等信息；
8.用戶權(quán)限管理：更改用戶權(quán)限，管理員身份和測(cè)試員身份等識(shí)別，設(shè)置用戶的登錄名稱、和權(quán)限、工號(hào)設(shè)置等；
9.借助Labview強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)分析能力，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種統(tǒng)計(jì)分析，信號(hào)的濾波、信號(hào)調(diào)理、信號(hào)運(yùn)算、信號(hào)的測(cè)量等等；
10.大的數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)每個(gè)UUT產(chǎn)生詳細(xì)的測(cè)試，存儲(chǔ)信息，便于查看，追蹤原因等；
11.記錄矩陣開關(guān)的連接信息，方便手動(dòng)操作調(diào)試；
12.測(cè)試步驟可以單步、也可以連續(xù)運(yùn)行；
13.運(yùn)行：系統(tǒng)中無(wú)硬件時(shí)，軟件可以運(yùn)行；
14.系統(tǒng)支持遠(yuǎn)程調(diào)試以及遠(yuǎn)程故障診斷；
15.開機(jī)自檢功能，具備治具的自動(dòng)檢測(cè)功能，多種保護(hù)措施設(shè)備運(yùn)行；
16.測(cè)試程序無(wú)需調(diào)試，系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試步驟的優(yōu)化、測(cè)試排序以及測(cè)試參數(shù)選擇；
