Belec　Compa　Port移動式光譜儀技術參數
　　Belec　Compa　Port移動式光譜儀用于固體樣品元素定量分析的儀器。光學系統采用PMT檢測器，光譜范圍覆蓋典型材料。

　　Compa　Port移動式光譜儀技術參數
　　光學系統：
　　-帕邢-龍格結構雙光譜室，
　　-光柵刻線　360線/mm
　　-羅蘭圓30　mm
　　-檢測器系統：PMT檢測器
　　-色散率：0，9　nm/mm（光譜）
　　-波長范圍：190-410nm/20–430　nm

　　探頭基本描述
　　低損耗鎢電（氬氣火花探頭）
　　能銀電（空氣火花探頭）
　　探頭鏈接系統
　　標準探頭
　　光源：
　　-火花激發源頻率40Hz
　　-單放電
　　-光源參數，點火頻率參數計算機控制
　　-點火電壓：20KV
　　電源：
　　20-240V/50-60Hz；
　　待機功率10W；
　　分析功率60W；
　　配備大容量充電電池
　　計算機及讀出系統（integrated　hardware）
　　-Euro-Card格式模塊計算機系統，Windows　XP操作系統，
　　-RAM>512，2¼”Hard　Disc>60　GB，CPU>1.0GHz
　　-電池供電實時時鐘日期功能
　　-配備接口，U，PS2，串口l，VGA，局域網，并口
　　顯示屏
　　-內置高清晰度10.4"液晶顯示器
　　-堅固耐用工業觸摸屏，水塵開合式集成鍵盤，易于操作

　　軟件
　　-BELEC　WIN21光譜分析軟件，多任務操作：
　　-原材料分選
　　-多種PMI測試程序
　　-自動根據給定偏差和激發次數進行標定控制
　　-可選激發次數進行PMI測試
　　-根據設定數據進行電清理
　　-對稱及不對稱偏差
　　-PMI元素顯示及相應偏差
　　-檢測結果存儲及打印
　　-可自由編輯
　　-牌號鑒別
　　-每套曲線存儲過30個牌號數據
　　-PMI測試中顯示牌號
　　-分析及搜索給出鑒定牌號
　　-定向分析（成分近似分析）
　　-分析程序無限制數量
　　-顯示光強值、強度比、再校準和校正強度比
　　-分析結果百分含量或ppm顯示
　　-1-2點曲線再校準
　　-相加和相乘的干擾校正
　　-基體校正
　　-自動選擇譜線
　　-任意激發次數的數據計算平均值、標準偏差及變異系數
　　-結果出曲線范圍的標示
　　-樣品標識輸入
　　-分析數據可傳輸至外部計算機
　　-連接外部打印機及顯示器
　　-硬盤故障自診斷
　　-分析數據以Excel，ASCII等標準格式存儲
　　-曲線數量無限制
　　-譜圖對比鑒別牌號。