SH-200系列粒子檢查顯微鏡是配置了研究級平場消色差金相物鏡，觀察圖像更銳利，圖面平坦度處理更好，圖像還原性好不失真。尤其是在顯微觀察及顯微拍照方面SH-200系列金相顯微鏡更有出色表現，是顯微拍照及視頻觀察理想的金相顯微鏡。SH-200系列金相顯微鏡出色的光學性能及觀察效果使其在金相試樣、材料分析、樣品微切片、微電子檢查、半導體、晶圓片、LCD及液晶顯示屏檢查等得到廣泛應用，是科研及實驗室常用的儀器之一。
性能特點：
1.SH-200金相顯微鏡采用無限遠色差校正光學系統，圖像質量好，分辨率更高，觀察更舒適。
2.長工作距離平場消色差物鏡，對焦快捷，適用性更廣，圖像更清晰、像面平坦還原性好。
3.SH-200金相顯微鏡配備了高眼點平場大視野目鏡（視場數22mm）。
4.照明系統配置了透反射照明器，反射采用LED冷光源，觀察更柔和舒適，壽命更長。
5.光學系統內置可調節視場光欄、孔徑光欄，觀察細微組織結構更清晰、襯度更好。
6.照明光路可加入起偏鏡和檢偏可進行偏光觀察。
應用范圍：
1.半導體、IC微電路、芯片、LCD液晶、晶圓片
2.金屬、礦物試樣，表面缺陷。
3.晶體表面紋路。
4.半導體封裝檢查。
5.透明或不透明工業試樣
性能特點：
1.SH-200金相顯微鏡采用無限遠色差校正光學系統，圖像質量好，分辨率更高，觀察更舒適。
2.長工作距離平場消色差物鏡，對焦快捷，適用性更廣，圖像更清晰、像面平坦還原性好。
3.SH-200金相顯微鏡配備了高眼點平場大視野目鏡（視場數22mm）。
4.照明系統配置了透反射照明器，反射采用LED冷光源，觀察更柔和舒適，壽命更長。
5.光學系統內置可調節視場光欄、孔徑光欄，觀察細微組織結構更清晰、襯度更好。
6.照明光路可加入起偏鏡和檢偏可進行偏光觀察。
應用范圍：
1.半導體、IC微電路、芯片、LCD液晶、晶圓片
2.金屬、礦物試樣，表面缺陷。
3.晶體表面紋路。
4.半導體封裝檢查。
5.透明或不透明工業試樣
其他說明
| 技術規格(標準配置) | ||
| 目鏡 | 大視野WF10X(視場數Φ 22mm) | |
|
長工作距平 場消色差物鏡 |
LWDPlan5X/0.14 工作距離:20.5 mm | |
| LWDPlan10X/0.25 工作距離:16.0mm | ||
| LWDPlan20X/0.40 工作距離:7.8mm | ||
| LWDPlan50X/0.55 工作距離:8.0 mm | ||
| 目鏡筒 | 30? 傾斜, 瞳距調節范圍53~75mm. | |
| 調焦機構 | 粗微動同軸調焦, 帶鎖緊和限位裝置, 微動格值: 1μ m. | |
| 轉換器 | 五孔(內向式滾珠內定位) | |
| 載物臺 | 雙層機械移動式載物臺, 外形尺寸: 210mmX140mm, 移動范圍: 75mmX50mm. | |
| 照明系統 | 反射照明器 | 低功耗長壽命3W LED燈,亮度可調 |
| 照明器 | 6V30W鹵素燈,亮度可調 | |
