WITec′s獲獎的TrueSurface顯微鏡可測量傾斜或粗糙的樣品表面,同時保持的聚焦焦點。因此它可以與共焦成像同時進行一個大區域地形掃描。
這種性的成像模式的元素是一個集成的傳感器光學輪廓測量。它直接安裝在顯微鏡上,便于用戶方便的處理。
傳感器操作根據共焦色傳感器原理: 為有一個好的映射能力,白光點光源使用透鏡系統聚焦在樣品,但一個強大的線性彩色誤差(多色差透鏡系統)。每種顏色有不同的焦距。從樣品的反射光通過一個針孔聚焦到光譜儀。因為只有一個特定的顏色是聚焦在樣品表面,因此只有這種光可以通過共焦針孔。因此檢測波長就可得到表面形貌。
True Surface掃描范圍50 x100毫米空間分辨率其中40 - 120 nm的垂直和10- 25μm的橫向。測量距離10-16mm，測量速度2000pixels/s。結合AFM, 在高分辨率AFM做大樣本測量時,True Surface可以作為預檢驗的工具來確定地形特性.
TrueSurface顯微鏡各種不同領域均有應用,包括細觀力學、、半導體,官能團表面的成像,生物的成像和制藥材料表面性質。
TrueSurface分析傾斜的地質樣品。 紅色的箭頭標志著感興趣的區域。同樣的區域使用TrueSurface成像模式(下圖中間)和共焦拉曼成像模式(下圖右邊,掃描范圍:2x2;地形范圍:>1.7)。
TrueSurface和共焦拉曼共用成像的藥片的一個高度剖面。紅色和藍色為, 綠色是賦形劑。樣品的地形變化過300μm。
