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X射線衍射是一種應用于材料分析的高科技檢測方法,可以采用這種方法進行分析研究的材料范圍廣泛,包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、、薄膜鍍層、陶瓷和半導體等。X射線衍射方法的應用工業和科研院所,現已成為一種的材料研究表征和質量控制手段。具體應用范圍包括定性和定量相分析、結晶學分析、結構解析、織構和殘余應力分析、受控樣品環境、微區衍射、納米材料、實驗和過程的自動控制以及高處理量多形體篩選。
BRUKER AXS是一家的可以提供X射線衍射解決方案的供應廠商。由于在X射線光源、光學配件、探測器、軟件以及樣品臺等方面不斷進行革新和改進,因此BRUKER AXS能夠提供可以完成各種X射線衍射分析任務的解決方案。另外,的BRUKER AXS X射線衍射系統均構建于通用的D8平臺,這種模塊化設計為將來系統的升級和降級提供了。同時BRUKER AXS還可以提供大量可互換光學配件以便對入射光束進行調節。
樣品臺在真正意義上實現了無限制:樣品旋轉器、溫度和濕度室、5個自由度的位移控制或者300毫米全自動芯片樣品臺均可在D8平臺上使用。在探測器方面可以任意選用點、一維和二維XRD2探測器來完成所面臨的分析任務并得到的分析結果。DIFFRACplus軟件包為具體的測量和分析軟件提供了通用的外觀和友好的界面。同時BRUKER AXS還可以根據客戶要求為客戶提供及時的技支持、培訓和檢修服務。
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