單排IC集成電路老化測試座 該系列插座適用于DIP封裝的單排直插式集成電路的老化、測試、篩選及性試驗作連接之用。該產品廣泛運用于航空航天、、科研院所、電子、通訊 產品型號及規格; IC-10J IC-21J 主要技術指標; 材料:陶瓷 磷青銅 間距;2.54mm 環境溫度;-55℃—+255℃ 接觸電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V 單腳力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;1um鎳3um金 插拔壽命;高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次
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單排IC集成電路老化測試座 該系列插座適用于DIP封裝的單排直插式集成電路的老化、測試、篩選及性試驗作連接之用。該產品廣泛運用于航空航天、、科研院所、電子、通訊 產品型號及規格; IC-10J IC-21J 主要技術指標; 材料:陶瓷 磷青銅 間距;2.54mm 環境溫度;-55℃—+255℃ 接觸電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V 單腳力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;1um鎳3um金 插拔壽命;高低溫狀態下插拔壽命;2000-3000次