美國Bruker(前Dial Instrument 和 Veeco)掃描探針顯微鏡

美國Bruker公司(前美國Veeco公司)是世界原子力顯微鏡，輪廓儀，臺階儀生產廠家，布魯克第八代多功能掃描探針顯微鏡是世界上應用廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在成功安裝使用了近萬套。


顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構，在新材料尤其日前比較熱門的石墨烯研究中更是有的優勢。Bruker為了維持對高科技產品成長的，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，生產良率、增加生產力、品質及降低使用成本。

Dimension FastScan? 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?的分辨率和卓越的儀器性能前提下，限度的了成像速度。這項性的技，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技水平的AFM用戶獲得數據的時間。

布魯克第八代多功能掃描探針顯微鏡主要特點：

1. 世界上的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優異的可操作性
4. 的靈與功能性
5. 無限的應用擴展性Multimode

可以實現的SPM表面表征技，
?輕敲模式(Tapping Mode AFM)
?接觸模式(Contact Mode AFM)
?自動成像模式(ScanAsyst)
?相位成像模式(Phase Imaging)
?橫向力模式(laterial Force Microscopy, LFM)
?磁場力顯微(Magnetic Force Microscopy, MFM)
?掃描隧道顯微(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
? 力調制(Force Modulation)
? 電場力顯微(Electric Force Microscopy, EFM)
? 掃描電容掃描(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
? 表面電勢顯微(Surface Potential Microscopy)
? 力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
? 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
? 電化學顯微(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
? 皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
?隧道原子力顯微(Tunneling AFM, TUNA)
? 導電原子力顯微(Conductive AFM, CAFM)
? 掃描擴散電阻顯微(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
? 扭轉共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
? 壓電響應模式(Piezo Respnance mode, PR mode)

 

Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨率，不增加操作復雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現了利用 Dimension快速掃描系統，即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度 > 125Hz， 還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技重新定義了AFM儀器的操作和功能。