應用領域：
26G高頻雷達物位計，測量距離可達80米。天線被進一步優化處理，新型的快速的微處理器可以進行更率的信號分析處理，使得儀表可以用于：反應釜或固體料倉復雜的測量條件。
工作原理：
26G高頻雷達物位計天線發射較窄的微波脈沖，經天線向下傳輸，微波接觸到被測介質表面后被反射回來，再次被天線系統接收并將其傳輸給電子線路部分自動轉換成物位信號（因為微波傳播速度快，電磁波到達目標并經反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是的）。
注：使用雷達物位計時，務料位不能進入測量盲區（圖中D所示區域）。
主要特點：
雷達物位計采用了26GHz的發射頻率，因而具有：
非接觸雷達，無磨損，無污染
天線尺寸小，便于安裝
波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射
測量盲區更小，對于小罐測量也會取得良好的效果
波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時，又有利于避開干擾物
幾乎不受腐蝕、泡沫影響
幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響
嚴重粉塵環境不會影響電磁波工作
高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優的性能
高頻率，是測量固體和低介電常數介質的選擇
詳細參數：
| LEH-701 | 應 用： 各種強腐蝕性液體 測量范圍： 10米 過程連接： 螺紋、法蘭 過程溫度： -40～130℃ 過程壓力： -0.1～0.3MPa 精 度： ±5mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
| LEH-702 | 應 用： 耐溫、耐壓、輕微腐蝕的液體 測量范圍： 30米 過程連接： 螺紋、法蘭 過程溫度： -40～250℃ 過程壓力： -0.1～4.0MPa 精 度： ±3mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
| LEH-703 | 應 用： 固體料、 過程容器或強粉塵易結晶、 結露場合 測量范圍： 70米 過程連接： 萬向法蘭 過程溫度： -40～250℃ 過程壓力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
| LEH-704 | 應 用： 固體料、過程容器或強粉塵易結晶、結露場合 測量范圍： 80米 過程連接： 螺紋、萬向法蘭 過程溫度： -40～250℃ 過程壓力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
| LEH-705 | 應 用： 固體顆粒、粉塵 測量范圍： 30米 過程連接： 螺紋、法蘭 過程溫度： -40～250℃ 過程壓力： -0.1～4.0MPa（平板） -0.1～0.1MPa（萬向法蘭） 精 度： ±10mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
| LEH-706 | 應 用： 衛生型液體存儲容器，強腐蝕性容器 測量范圍： 20米 過程連接： 法蘭 過程溫度： -40～150℃ 過程壓力： 常壓 精 度： ±3mm 頻率范圍： 26GHz 爆等級： Exia ⅡC T6 Ga/ Exd [ia] IIC T6 Gb 護等級： IP67 現場顯示： 四位LCD 可編程 外 殼： 鋁 / 塑料 信號輸出： 4...20mA/HART(兩線/四線) RS485/Modbus |
