供應阻分析儀HP4191A  含Agilent/HP 16092A夾具

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HP4284A精密LCR測試儀  20MHZ-1MHZ
HP4285A精密LCR測試儀  75KHZ-30MHZ
HP4286A射頻LCR測試儀  1MHZ-1GHZ
HP4287A射頻LCR測試儀  1MHZ-3GHZ
HP4192A低頻阻測試儀 5HZ-13MHZ
HP4194A阻測試儀  100HZ-40MHZ 

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  HP4191A：
測試材料的阻Z，導納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質因數
射頻阻計量器具檢定系統
　　Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments 　　JJG 2011-87
　　代替：高頻阻量值傳遞系統 
射頻阻計量器具檢定系統
　　本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
　　一、計量基準器具
　　1、高頻集總參數阻的計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高頻阻量值（包括電介質材料的復數介電常數和軟磁材料的復數導磁率）的計量設備和量具。
　　2、射（高）頻集總參數阻計量基準器具包括：
　 　2.1空氣介質同軸線阻基準，其阻量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經理論計算求得。它用以校準按反射系數測量原理設計的高頻阻精密測量裝置。空氣 介質同軸線也是微波阻基準，本檢定系統移用它，有利于射（高）頻、微波阻量值的統一。在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
　　　　反射系數模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
　　2.2高頻阻高頻阻精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻分析儀，經過準確度論證分析，高頻集總參數阻量的以下計量工作性能：
　　　　頻率：（1-1000）MHz
　　　　反射系數模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
　　　　相角θ：±180°±0.5°；
　　　　阻模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
　　　　電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)
　　二、高頻集總參數阻標準
　　3、集總參數阻標準包括：
　　3.1高頻阻標準件50Ω，0Ω，0S。它們由基準通過直接比對法傳遞量值，技術特性如下：
　　　　50Ω：｜г｜≤0.0025；　　　　0Ω：殘余阻小于2mΩ；　　　　0S：邊緣電容值0.080pF。
　　這些標準件用以校準按電壓電流比原理設計的高頻阻分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻測量儀器（校準中還需使用直流以和低頻阻標準伯）。并由50Ω阻件組成模擬損耗件校準Q值、tgδ值等標準設備。
　　3.2高頻、低頻阻分析儀。這些是市售商品高準確度阻測量儀器，也用作計量標準設備，用以定標低準確度的阻標準量具。其技術指標為：
　　　　頻率：20kHz-1000MHz；
　　　　阻｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20%）；
　　　　電容C：10pF-100nF±(0.5-20)%；
　　　　電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）%

 
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