Filmetrics F40 薄膜測厚儀

結合顯微鏡的薄膜測量系統

Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。
當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，F40是的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得精準的厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F40就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看到樣品和測量位置。

Filmetrics優勢
? 桌面型薄膜厚度測量的
? 24小時電話、Email、在線技術支持
? 直觀的分析軟件 

附 加 特 性

? 嵌入式在線診斷方式

? 離線分析軟件

? 精細的歷史數據功能，幫助用戶的存儲，重現與繪制測試結果

相關應用

半導體制造                                        生物原件
? 光刻膠                                             ? 聚合物/聚對二
? 氧化物/氮化物                                   ? 生物膜/氣泡墻厚度
? 硅或其他半導體膜層                           ? 植入涂層

微電子                                               液晶顯示器
? 光刻膠                                              ? 盒厚
? 硅膜                                                 ? 聚酰亞胺  
? 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                        ? 導電透明膜

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