iv自動曲線量測儀ic失效分析半導體分析設備
集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在步)，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數越來越多，傳統的curve tracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求。Advanced推出的art-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200的便利性。
主要參數：
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產品測試需求。
2. 機臺主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
iv自動曲線量測儀ic失效分析半導體分析設備
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可協助客戶解決其產品在DC Fail之電性分析，并節省客戶上Functional Tester 之借機成本及時間。
3.采用電腦化控制的操作系統，比傳統的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產生格式化的report。
4.Windows的操作系統，易學易懂，而所建立的Device之Pin ignment 可儲存在電腦中，未來可重復被使用，比傳統的Switching Matrix更便利省時。
5.機臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。
6.機臺本身除了可作產品的失效分析外，還可結合Auto Handler，做M Production之Open/Short Test，可謂一機多用。
