- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
品 質(zhì) 特 征（測(cè)量工件不動(dòng)，龍門架移動(dòng)）
l 帶您進(jìn)入三維復(fù)合式測(cè)量的世界:全自動(dòng)龍門式大行程復(fù)合影像測(cè)量?jī)x
l 基座采用大理石（00級(jí)）材料，堅(jiān)固的平臺(tái)設(shè)計(jì)，保證擁有極高的穩(wěn)定性及剛性。
l 采用研磨級(jí)滾珠螺桿和精密線性導(dǎo)軌，配合松下高性能交流伺服系統(tǒng)全閉環(huán)控制，高，高速度，高穩(wěn)定性。
l 采用美國(guó)TEO高分辨彩色工業(yè)級(jí)800TV線高清CCD，保證擁有高質(zhì)量的測(cè)量畫面，快速的測(cè)量速率。
l 全自動(dòng)變倍鏡頭，改變倍率后不需要重新校正。
l 可程控四環(huán)八區(qū)LED表面冷光源，直軸輪廓冷光源，（選配同軸冷光源）。
l 貼片光學(xué)尺0.0005mm。
l 英國(guó)Renishaw接觸式測(cè)頭組（可選配自動(dòng)探針SCR系統(tǒng)）及日本基恩士激光測(cè)頭組。
l 自主研發(fā)功能強(qiáng)大的全自動(dòng)3D測(cè)量軟件，可編程自動(dòng)測(cè)量。
l 影像，探針，激光共軸測(cè)量，可編程自動(dòng)測(cè)量。
l 可以選配Z軸測(cè)量范圍：300-500mm.
技術(shù)規(guī)格
H型：選配激光測(cè)頭組； T型：選配接觸測(cè)頭組
| QVH700 | QVH800 | QVH1000 | QVH1200 | QVH1800 | QVH2500 | |
儀器參數(shù) | |||||||
測(cè) | X | 600 | 600 | 800 | 1200 | 1200 | 1500 |
Y | 700 | 800 | 1000 | 1000 | 1800 | 2500 | |
Z | 200 | 200 | 200 | 200 | 200 | 200 | |
工 | 硬鋁合金臺(tái)面 | 900×800 | 940*800 | 1210*1010 | 1210×1440 | 2020×1440 | 2760×2240 |
玻璃臺(tái)面 | 870×790 | 890*790 | 1168*968 | 1398*1168 | 1968×1398 | 2718×2198 | |
玻璃承重 | 50kg | 50kg | 50kg | 50kg | 50kg | 50kg | |
大理石承重 | 150kg | 150kg | 150kg | 150kg | 150kg | 150kg | |
影 | 測(cè)量速度 | MAX:500mm/s | |||||
CCD | 美國(guó)TEO彩色高分辨率攝像機(jī)800TV線 | ||||||
變焦物鏡 | 全自動(dòng)變倍：0.7－4.5X | ||||||
視頻放大分倍率 | 30－180X(顯示器24寸) | ||||||
物方視場(chǎng) | 10.6－1.6mm | ||||||
工作距離 | 82mm | ||||||
顯示分辨率 | 0.0001mm | ||||||
運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)：四軸全閉環(huán)控制：三軸交流伺服馬達(dá)全閉環(huán)控制，預(yù)壓線性滑軌與研磨級(jí)滾珠螺桿驅(qū)動(dòng)，步進(jìn)馬達(dá)同軸控制鏡頭組 | |||||||
重復(fù)性 | 2μm | ||||||
測(cè)量 | XYZ軸≦(2.6+L/200)um,Z軸（光學(xué)測(cè)量時(shí)）≦(5+L/200)um | ||||||
外形尺寸（mm) | 1600*1300*1780 | 1600*1300*1780 | 1900*1450*1780 | 1900*1900*1780 | 2700*1900*1780 | 3450*2680*1780 | |
儀器重量(kg) | 1800kg | 1800kg | 2600kg | 3200kg | 4200kg | 5100kg | |
照明 | 可程控四環(huán)八區(qū)LED表面光及直軸輪廓冷光源（選配同軸冷光源）,亮度可調(diào) | ||||||
電源 | 220V±10%(AC) 50HZ 電流大于20A | ||||||
訂貨說(shuō)明：選配接觸測(cè)頭組( 圖參考第7頁(yè) )
①手動(dòng)旋轉(zhuǎn)測(cè)頭組MH20I+TP20; ②單向測(cè)頭PH6+TP20; ③單向經(jīng)濟(jì)型測(cè)頭MCP
