Quanta x50系列掃描電子顯微鏡是FEI公司新一代的、真正的多用途掃描電鏡，是的Quanta產品家族的第三代產品。
FEI 電子顯微鏡技術參數：
1.分辨率:
二次電子:
高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV
高真空減速模式 7nm @ 3kV (可選項)
低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV
環境真空模式 3.0nm @ 30kV
背散射電子 4.0nm @ 30kV
2.樣品室壓力達2600Pa
3.加速電壓200V ～ 30kV，連續調節
4.樣品臺移動范圍
Quanta 250: X=Y=50mm
Quanta 450: X=Y=100mm
Quanta 650: X=Y=150mm
FEI 電子顯微鏡主要特點：
1.FEI ESEM(環境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。
3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。
4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統。
5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態觀察和分析。
Tecnai G2透射電子顯微鏡是FEI生產的新型、性能優越的藝術級儀器。Tecnai G2運行在Windows XP的操作系統下，提供了高性能和多功能, 用戶在使用方便、個性化和安全環境下可輕易獲得大量的高質量分析成果。Tecnai G2使透射電子顯微鏡的操作比以往更方便簡捷。
在Tecnai G2上, 所有的操作和探測系統(包括透射掃描附件、視頻監視器、CCD相機、EDX能譜儀、EELS電子能量損失譜和能量過濾器)可以全部集成到一個系統之中, 通過一個顯示器、鼠標和鍵盤進行操作。
對材料特性的全面認識是理解材料性能的基本前提。材料形態、晶體結構、化學成分、界面結構、表面以及缺陷都對材料的性能產生影響。透射電子顯微鏡已經被證實是在小到埃級尺寸研究各種普通材料和先進材料的非常有效的技術。它能夠產生很多的信號, 這些信號攜帶了不同類型的有用信息。Tecnai G2 20經過特殊設計可以快速有效地采集和處理這些信號。將高分辨圖像、明場/暗場圖像、STEM圖像、電子衍射和詳細的微觀分析有機的結合起來, 使Tecnai G2 20成為材料分析研究的重要儀器。
Tecnai G2 20可以根據不同用戶的配置要求供貨。標準型儀器提供了已被證實的多項先進技術: 既可得到高分辨圖像又保持高傾角(40°)的S-TWIN物鏡, 提供樣品控制和機械穩定性優異的CompuStage樣品臺。Tecnai G2 20可以安裝完全集成式設計的數字化的STEM(透射掃描附件)、EDX(能譜儀)和能量過濾或PEELS(能量損失譜)。這些技術可結合起來完成頻譜分布和頻譜圖像的分析工作。Tecnai G2 20為材料分析研究用戶提供了穩定性、操作方便性和高性能的優異組合。無論是在常規分析, 還是亞微米研究, Tecnai G2 20都能夠滿足日益增多的樣品數量。
為滿足結構生物學研究的需要，FEI公司還設計制造了配置TWIN物鏡和Cryo冷凍樣品臺的專門系統: Tecnai G2 20 TWIN
其主要技術特點：
- TWIN物鏡系統, 點分辨率 0.27nm
- 樣品傾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備
- 全自動化的數據采集和數據處理系統
FEI 電子顯微鏡技術參數：
1.LaB6燈絲或鎢燈絲
2.點分辨率
U-TWIN 0.19nm
S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速電壓 20-200kV,連續可調
4.放大倍數 25x - 1100kx
5.樣品傾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.計算機控制的全數字化電鏡,基于Windows XP的用戶界面
FEI 電子顯微鏡主要特點：
1.100%數字化系統
2.FEI技術S-TWIN/U-TWIN物鏡
3.CompuStage樣品臺提供高的樣品位置控制
4.全連鎖的潔凈的真空系統
5.可選完全集成化的各種附件, 如能譜儀、CCD相機等
